IDR Logo

Browsing by Author Ueda I.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
or enter first few letters:  
Showing results 1 to 1 of 1
Issue DateTitleAuthor(s)
2018Measurement of the D?? polarization in the decay B0 ? D???+??Abdesselam A.; Adachi I.; Adamczyk K.; Ahn J.K.; Aihara H.; Al Said S.; Arinstein K.; Arita Y.; Asner D.M.; Atmacan H.; Aulchenko V.; Aushev T.; Ayad R.; Aziz T.; Babu V.; Badhrees I.; Bahinipati S.; Bakich A.M.; Ban Y.; Bansal V.; Barberio E.; Barrett M.; Bartel W.; Behera P.; Bele�o C.; Belous K.; Berger M.; Bernlochner F.; Besson D.; Bhardwaj V.; Bhuyan B.; Bilka T.; Biswal J.; Bloomfield T.; Bobrov A.; Bondar A.; Bonvicini G.; Bozek A.; Bra?ko M.; Braun N.; Breibeck F.; Browder T.E.; Campajola M.; Cao L.; Caria G.; ?ervenkov D.; Chang M.-C.; Chang P.; Chao Y.; Cheaib R.; Chekelian V.; Chen A.; Chen K.-F.; Cheon B.G.; Chilikin K.; Chistov R.; Cho H.E.; Cho K.; Chobanova V.; Choi S.-K.; Choi Y.; Choudhury S.; Cinabro D.; Crnkovic J.; Cunliffe S.; Czank T.; Danilov M.; Dash N.; Di Carlo S.; Dingfelder J.; Dole�al Z.; Dong T.V.; Dossett D.; Dr�sal Z.; Drutskoy A.; Dubey S.; Dutta D.; Eidelman S.; Epifanov D.; Fast J.E.; Feindt M.; Ferber T.; Frey A.; Frost O.; Fulsom B.G.; Garg R.; Gaur V.; Gabyshev N.; Garmash A.; Gelb M.; Gemmler J.; Getzkow D.; Giordano F.; Giri A.; Goldenzweig P.; Golob B.; Greenwald D.; Perdekamp M.G.; Grygier J.; Grzymkowska O.; Guan Y.; Guido E.; Guo H.; Haba J.; Hamer P.; Hara K.; Hara T.; Hasegawa Y.; Hasenbusch J.; Hayasaka K.; Hayashii H.; He X.H.; Heck M.; Hedges M.T.; Heffernan D.; Heider M.; Heller A.; Higuchi T.; Hirose S.; Horiguchi T.; Hoshi Y.; Hoshina K.; Hou W.-S.; Hsiung Y.B.; Hsu C.-L.; Huang K.; Huschle M.; Igarashi Y.; Iijima T.; Imamura M.; Inami K.; Inguglia G.; Ishikawa A.; Itagaki K.; Itoh R.; Iwasaki M.; Iwasaki Y.; Iwata S.; Jacobs W.W.; Jaegle I.; Jeon H.B.; Jia S.; Jin Y.; Joffe D.; Jones M.; Joo C.W.; Joo K.K.; Julius T.; Kahn J.; Kakuno H.; Kaliyar A.B.; Kang J.H.; Kang K.H.; Kapusta P.; Karyan G.; Kataoka S.U.; Kato E.; Kato Y.; Katrenko P.; Kawai H.; Kawasaki T.; Keck T.; Kichimi H.; Kiesling C.; Kim B.H.; Kim C.H.; Kim D.Y.; Kim H.J.; Kim H.-J.; Kim J.B.; Kim K.T.; Kim S.H.; Kim S.K.; Kim Y.J.; Kimmel T.; Kindo H.; Kinoshita K.; Kleinwort C.; Klucar J.; Kobayashi N.; Kody� P.; Koga Y.; Konno T.; Korpar S.; Kotchetkov D.; Kouzes R.T.; Kri�an P.; Kroeger R.; Krohn J.-F.; Krokovny P.; Kronenbitter B.; Kuhr T.; Kulasiri R.; Kumar R.; Kumita T.; Kurihara E.; Kuroki Y.; Kuzmin A.; Kvasni?ka P.; Kwon Y.-J.; Lai Y.-T.; Lalwani K.; Lange J.S.; Lee I.S.; Lee J.K.; Lee J.Y.; Lee S.C.; Leitgab M.; Leitner R.; Levit D.; Lewis P.; Li C.H.; Li H.; Li L.K.; Li Y.; Li Y.B.; Li Gioi L.; Libby J.; Lieret K.; Limosani A.; Liptak Z.; Liu C.; Liu Y.; Liventsev D.; Loos A.; Louvot R.; Lu P.-C.; Lubej M.; Luo T.; MacNaughton J.; Masuda M.; Matsuda T.; Matvienko D.; McNeil J.T.; Merola M.; Metzner F.; Mikami Y.; Miyabayashi K.; Miyachi Y.; Miyake H.; Miyata H.; Miyazaki Y.; Mizuk R.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Moon H.K.; Moon T.J.; Mori T.; Morii T.; Moser H.-G.; Mrvar M.; M�ller T.; Muramatsu N.; Mussa R.; Nagasaka Y.; Nakahama Y.; Nakamura I.; Nakamura K.R.; Nakano E.; Nakano H.; Nakano T.; Nakao M.; Nakayama H.; Nakazawa H.; Nanut T.; Nath K.J.; Natkaniec Z.; Nayak M.; Neichi K.; Ng C.; Niebuhr C.; Niiyama M.; Nisar N.K.; Nishida S.; Nishimura K.; Nitoh O.; Ogawa A.; Ogawa K.; Ogawa S.; Ohshima T.; Okuno S.; Olsen S.L.; Ono H.; Ono Y.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Oswald C.; Ozaki H.; Pakhlov P.; Pakhlova G.; Pal B.; Panzenb�ck E.; Pardi S.; Park C.-S.; Park C.W.; Park H.; Park K.S.; Park S.-H.; Patra S.; Paul S.; Pavelkin I.; Pedlar T.K.; Peng T.; Pes�ntez L.; Pestotnik R.; Peters M.; Piilonen L.E.; Popov V.; Prasanth K.; Prencipe E.; Prim M.; Prothmann K.; Purohit M.V.; Rabusov A.; Rauch J.; Reisert B.; Resmi P.K.; Ribe�l E.; Ritter M.; Rorie J.; Rostomyan A.; Rozanska M.; Rummel S.; Russo G.; Sahoo D.; Sahoo H.; Saito T.; Sakai Y.; Salehi M.; Sandilya S.; Santel D.; Santelj L.; Sanuki T.; Sasaki J.; Sasao N.; Sato Y.; Savinov V.; Schl�ter T.; Schneider O.; Schnell G.; Sch�nmeier P.; Schram M.; Schueler J.; Schwanda C.; Schwartz A.J.; Schwenker B.; Seidl R.; Seino Y.; Semmler D.; Senyo K.; Seon O.; Seong I.S.; Sevior M.E.; Shang L.; Shapkin M.; Shebalin V.; Shen C.P.; Shibata T.-A.; Shibuya H.; Shinomiya S.; Shiu J.-G.; Shwartz B.; Sibidanov A.; Simon F.; Singh J.B.; Sinha R.; Smith K.; Sokolov A.; Soloviev Y.; Solovieva E.; Stani? S.; Stari? M.; Steder M.; Stottler Z.; Strube J.F.; Stypula J.; Sugihara S.; Sugiyama A.; Sumihama M.; Sumisawa K.; Sumiyoshi T.; Sutcliffe W.; Suzuki K.; Suzuki K.; Suzuki S.; Suzuki S.Y.; Suzuki Z.; Takeichi H.; Takizawa M.; Tamponi U.; Tanaka M.; Tanaka S.; Tanida K.; Taniguchi N.; Tao Y.; Taylor G.N.; Tenchini F.; Teramoto Y.; Trabelsi K.; Tsuboyama T.; Uchida M.; Uchida T.; Ueda I.; Uehara S.; Uglov T.; Unno Y.; Uno S.; Urquijo P.; Ushiroda Y.; Usov Y.; Vahsen S.E.; Van Hulse C.; Van Tonder R.; Vanhoefer P.; Varner G.; Varvell K.E.; Vervink K.; Vinokurova A.; Vorobyev V.; Vossen A.; Wagner M.N.; Waheed E.; Wang B.; Wang C.H.; Wang M.-Z.; Wang P.; Wang X.L.; Watanabe M.; Watanabe Y.; Watanuki S.; Wedd R.; Wehle S.; Widmann E.; Wiechczynski J.; Williams K.M.; Won E.; Yabsley B.D.; Yamada S.; Yamamoto H.; Yamashita Y.; Yang S.B.; Yashchenko S.; Ye H.; Yelton J.; Yin J.H.; Yook Y.; Yuan C.Z.; Yusa Y.; Zakharov S.; Zhang C.C.; Zhang J.; Zhang L.M.; Zhang Z.P.; Zhao L.; Zhilich V.; Zhukova V.; Zhulanov V.; Zivko T.; Zupanc A.; Zwahlen N.