IDR Logo

Search


Current filters:


Start a new search
Add filters:

Use filters to refine the search results.


Results 1-10 of 18 (Search time: 0.242 seconds).
Item hits:
Issue DateTitleAuthor(s)
2016Belle II SVD ladder assembly procedure and electrical qualificationAdamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaya I.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sandilya S.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Volpi M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2016Measurement of the decay B ?d??? in fully reconstructed events and determination of the Cabibbo-Kobayashi-Maskawa matrix element |Vcb |Glattauer R.; Schwanda C.; Abdesselam A.; Adachi I.; Adamczyk K.; Aihara H.; Al Said S.; Asner D.M.; Aushev T.; Ayad R.; Aziz T.; Badhrees I.; Bakich A.M.; Bansal V.; Barberio E.; Bhuyan B.; Biswal J.; Bonvicini G.; Bozek A.; Bra?ko M.; Breibeck F.; Browder T.E.; ?ervenkov D.; Chekelian V.; Chen A.; Cheon B.G.; Chilikin K.; Chistov R.; Cho K.; Chobanova V.; Choi Y.; Cinabro D.; Dalseno J.; Danilov M.; Dash N.; Dingfelder J.; Dole�al Z.; Drutskoy A.; Dutta D.; Eidelman S.; Farhat H.; Fast J.E.; Ferber T.; Frey A.; Fulsom B.G.; Gaur V.; Gabyshev N.; Garmash A.; Gillard R.; Goh Y.M.; Goldenzweig P.; Golob B.; Greenwald D.; Haba J.; Hamer P.; Hara T.; Hasenbusch J.; Hayasaka K.; Hayashii H.; Hou W.-S.; Hsu C.-L.; Iijima T.; Inami K.; Inguglia G.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joffe D.; Joo K.K.; Julius T.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kiesling C.; Kim D.Y.; Kim J.B.; Kim J.H.; Kim K.T.; Kim M.J.; Kim S.H.; Kim Y.J.; Kinoshita K.; Kody� P.; Korpar S.; Kri�an P.; Krokovny P.; Kuhr T.; Kuzmin A.; Kwon Y.-J.; Lee I.S.; Li L.; Li Y.; Libby J.; Liu Y.; Liventsev D.; Lukin P.; Macnaughton J.; Masuda M.; Matvienko D.; Miyabayashi K.; Miyata H.; Mizuk R.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Moll A.; Moon H.K.; Mussa R.; Nakano E.; Nakao M.; Nanut T.; Natkaniec Z.; Nayak M.; Nisar N.K.; Nishida S.; Ogawa S.; Okuno S.; Oswald C.; Pakhlov P.; Pakhlova G.; Pal B.; Park H.; Pedlar T.K.; Pes�ntez L.; Pestotnik R.; Petri? M.; Piilonen L.E.; Pulvermacher C.; Rauch J.; Ribe�l E.; Ritter M.; Rostomyan A.; Sahoo H.; Sakai Y.; Sandilya S.; Santelj L.; Sanuki T.; Savinov V.; Schneider O.; Schnell G.; Schwartz A.J.; Seino Y.; Senyo K.; Seon O.; Sevior M.E.; Shebalin V.; Shibata T.-A.; Shiu J.-G.; Shwartz B.; Sibidanov A.; Simon F.; Sohn Y.-S.; Sokolov A.; Solovieva E.; Stari? M.; Sumiyoshi T.; Tamponi U.; Teramoto Y.; Trabelsi K.; Trusov V.; Uchida M.; Unno Y.; Uno S.; Urquijo P.; Usov Y.; Van Hulse C.; Vanhoefer P.; Varner G.; Varvell K.E.; Vorobyev V.; Vossen A.; Wang C.H.; Wang M.-Z.; Wang P.; Watanabe Y.; Won E.; Yamamoto H.; Yamashita Y.; Yook Y.; Zhang Z.P.; Zhilich V.; Zhulanov V.; Zupanc A.; Belle Collaboration
2016Construction and test of the first Belle II SVD ladder implementing the origami chip-on-sensor designIrmler C.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Fr�hwirth R.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaia I.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sandilya S.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Volpi M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2016Belle II silicon vertex detectorAdamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Enami K.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.W.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sandilya S.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Volpi M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2016The software framework of the Belle II silicon vertex detector and its development for the 2016 test-beam at desyCaria G.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli Ti.; Baroncelli To.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Bulla L.; Casarosa G.; Ceccanti M.; Cervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; De Pietro G.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kambara N.; Kang K.H.; Kawasaki T.; Kody? P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kumar R.; Kun W.; Kvasnicka P.; La Licata C.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Libby J.; Lueck T.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Resmi P.K.; Rozanska M.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watanabe M.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.; Zani L.
2016Measurement of the branching ratio of B0 ?d?+?- ? ? relative to B 0 ?d?+? ??? decays with a semileptonic tagging methodSato Y.; Iijima T.; Adamczyk K.; Aihara H.; Asner D.M.; Atmacan H.; Aushev T.; Ayad R.; Aziz T.; Babu V.; Badhrees I.; Bakich A.M.; Bansal V.; Behera P.; Bhardwaj V.; Bhuyan B.; Biswal J.; Bonvicini G.; Bozek A.; Bra?ko M.; ?ervenkov D.; Chang P.; Chekelian V.; Chen A.; Cheon B.G.; Chilikin K.; Chistov R.; Cho K.; Chobanova V.; Choi Y.; Cinabro D.; Danilov M.; Dash N.; Di Carlo S.; Dole�al Z.; Dutta D.; Eidelman S.; Epifanov D.; Farhat H.; Fast J.E.; Ferber T.; Fulsom B.G.; Gaur V.; Gabyshev N.; Garmash A.; Goldenzweig P.; Golob B.; Greenwald D.; Hara K.; Hara T.; Hasenbusch J.; Hayasaka K.; Hayashii H.; Hirose S.; Horiguchi T.; Hou W.-S.; Inami K.; Ishikawa A.; Itoh R.; Iwasaki Y.; Jaegle I.; Jeon H.B.; Joffe D.; Julius T.; Kang K.H.; Kato Y.; Katrenko P.; Kawasaki T.; Kim D.Y.; Kim J.B.; Kim K.T.; Kim M.J.; Kim S.H.; Kim Y.J.; Kinoshita K.; Kody� P.; Korpar S.; Kotchetkov D.; Krokovny P.; Kuhr T.; Kumar R.; Kwon Y.-J.; Lange J.S.; Li C.H.; Li L.; Li Y.; Li Gioi L.; Libby J.; Liventsev D.; Luo T.; Masuda M.; Matsuda T.; Matvienko D.; Miyabayashi K.; Miyata H.; Mizuk R.; Mohanty G.B.; Moll A.; Moon H.K.; Nakamura K.R.; Nakano E.; Nakao M.; Nanut T.; Nath K.J.; Natkaniec Z.; Nayak M.; Negishi K.; Nisar N.K.; Nishida S.; Ogawa S.; Okuno S.; Olsen S.L.; Onuki Y.; Pakhlov P.; Pakhlova G.; Pal B.; Park C.-S.; Paul S.; Pedlar T.K.; Pes�ntez L.; Pestotnik R.; Petri? M.; Piilonen L.E.; Purohit M.V.; Rauch J.; Rostomyan A.; Rozanska M.; Sakai Y.; Sandilya S.; Santelj L.; Savinov V.; Schl�ter T.; Schneider O.; Schnell G.; Schwanda C.; Schwartz A.J.; Seino Y.; Senyo K.; Seon O.; Sevior M.E.; Shebalin V.; Shen C.P.; Shibata T.-A.; Shiu J.-G.; Shwartz B.; Simon F.; Solovieva E.; Stani? S.; Stari? M.; Strube J.F.; Sumiyoshi T.; Takizawa M.; Tamponi U.; Tenchini F.; Trabelsi K.; Uchida M.; Uno S.; Urquijo P.; Ushiroda Y.; Usov Y.; Van Hulse C.; Varner G.; Vinokurova A.; Vorobyev V.; Wang C.H.; Wang M.-Z.; Wang P.; Watanabe Y.; Williams K.M.; Won E.; Yamamoto H.; Yamaoka J.; Yamashita Y.; Yelton J.; Yook Y.; Yuan C.Z.; Yusa Y.; Zhang Z.P.; Zhilich V.; Zhukova V.; Zhulanov V.; Zupanc A.; Belle Collaboration
2016Search for the rare decay D0 ??? at BelleNisar N.K.; Mohanty G.B.; Trabelsi K.; Aziz T.; Abdesselam A.; Adachi I.; Aihara H.; Asner D.M.; Aulchenko V.; Aushev T.; Ayad R.; Babu V.; Badhrees I.; Bahinipati S.; Barberio E.; Behera P.; Bhardwaj V.; Biswal J.; Bobrov A.; Bozek A.; Bra?ko M.; Breibeck F.; Browder T.E.; ?ervenkov D.; Chekelian V.; Chen A.; Cheon B.G.; Chistov R.; Cho K.; Chobanova V.; Choi Y.; Cinabro D.; Dalseno J.; Dash N.; Dole�al Z.; Dr�sal Z.; Drutskoy A.; Dutta D.; Eidelman S.; Farhat H.; Fast J.E.; Fulsom B.G.; Gaur V.; Garmash A.; Gillard R.; Goh Y.M.; Goldenzweig P.; Golob B.; Greenwald D.; Grzymkowska O.; Haba J.; Hara T.; Hayasaka K.; Hayashii H.; He X.H.; Hou W.-S.; Inami K.; Ishikawa A.; Iwasaki Y.; Jacobs W.W.; Jaegle I.; Jeon H.B.; Joffe D.; Joo K.K.; Julius T.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kiesling C.; Kim D.Y.; Kim H.J.; Kim K.T.; Kim M.J.; Kim S.H.; Kinoshita K.; Kody� P.; Korpar S.; Kri�an P.; Krokovny P.; Kuhr T.; Kumar R.; Kumita T.; Kuzmin A.; Kwon Y.-J.; Lee I.S.; Lange J.S.; Li H.; Li L.; Li Gioi L.; Libby J.; Liventsev D.; Lukin P.; Masuda M.; Matvienko D.; Miyabayashi K.; Miyata H.; Mizuk R.; Mohanty S.; Moll A.; Moon H.K.; Mori T.; Mussa R.; Nakano E.; Nakao M.; Nanut T.; Natkaniec Z.; Nayak M.; Niiyama M.; Nishida S.; Ogawa S.; Okuno S.; Pakhlov P.; Pakhlova G.; Pal B.; Park C.W.; Park H.; Paul S.; Pedlar T.K.; Pes�ntez L.; Pestotnik R.; Petri? M.; Piilonen L.E.; Prasanth K.; Pulvermacher C.; Rauch J.; Ribe�l E.; Ritter M.; Rostomyan A.; Ryu S.; Sahoo H.; Sakai Y.; Sandilya S.; Sanuki T.; Sato Y.; Savinov V.; Schl�ter T.; Schneider O.; Schnell G.; Schwanda C.; Schwartz A.J.; Seino Y.; Senyo K.; Seon O.; Seong I.S.; Shebalin V.; Shibata T.-A.; Shiu J.-G.; Shwartz B.; Simon F.; Singh J.B.; Sohn Y.-S.; Solovieva E.; Stani? S.; Stari? M.; Stypula J.; Sumihama M.; Sumiyoshi T.; Tamponi U.; Teramoto Y.; Uchida M.; Uglov T.; Uno S.; Urquijo P.; Van Hulse C.; Vanhoefer P.; Varner G.; Varvell K.E.; Vinokurova A.; Vossen A.; Wagner M.N.; Wang C.H.; Wang M.-Z.; Wang X.L.; Watanabe M.; Watanabe Y.; Williams K.M.; Won E.; Yelton J.; Yuan C.Z.; Yusa Y.; Zhang Z.P.; Zhilich V.; Zhulanov V.; Zupanc A.; Belle Collaboration
2016The monitoring system of the Belle II Vertex DetectorVitale L.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli Ti.; Baroncelli To.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Bulla L.; Caria G.; Casarosa G.; Cautero G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; De Pietro G.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Giuressi D.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kambara N.; Kang K.H.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kumar R.; Kun W.; Kvasni?ka P.; La Licata C.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Libby J.; Lueck T.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Resmi P.K.; Rozanska M.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Watanuki S.; Watanabe M.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.; Zani L.
2016A bonding study toward the quality assurance of Belle-II silicon vertex detector modulesKang K.H.; Jeon H.B.; Park H.; Uozumi S.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Joo C.W.; Kandra J.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Pilo F.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaia I.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sandilya S.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Urquijo P.; Vitale L.; Volpi M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2016EMC studies for the vertex detector of the Belle II experimentThalmeier R.; Iglesias M.; Arteche F.; Echeverria I.; Friedl M.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Ceccanti M.; Cervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kiesling C.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasnicka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Moser H.G.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaia I.; Rizzo G.; Rozanska M.; Rummel S.; Sandilya S.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Volpi M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.