IDR Logo

Browsing by Author Watanuki S.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
or enter first few letters:  
Showing results 1 to 20 of 50  next >
Issue DateTitleAuthor(s)
2018Angular analysis of the e + e - ? D (*)� D *? process near the open charm threshold using initial-state radiationZhukova V.; Pakhlova G.; Pakhlov P.; Adachi I.; Aihara H.; Al Said S.; Asner D.M.; Aulchenko V.; Aushev T.; Ayad R.; Babu V.; Badhrees I.; Behera P.; Bhuyan B.; Biswal J.; Bobrov A.; Bonvicini G.; Bozek A.; Bra?ko M.; Browder T.E.; ?ervenkov D.; Chekelian V.; Chen A.; Cheon B.G.; Chilikin K.; Cho K.; Choi S.-K.; Choi Y.; Cinabro D.; Czank T.; Dash N.; Di Carlo S.; Dole�al Z.; Dr�sal Z.; Eidelman S.; Farhat H.; Fast J.E.; Ferber T.; Fulsom B.G.; Gaur V.; Garmash A.; Gillard R.; Goldenzweig P.; Grzymkowska O.; Guido E.; Haba J.; Hayasaka K.; Hayashii H.; Hedges M.T.; Hou W.-S.; Inami K.; Inguglia G.; Ishikawa A.; Itoh R.; Iwasaki M.; Iwasaki Y.; Jacobs W.W.; Jaegle I.; Jeon H.B.; Jia S.; Jin Y.; Julius T.; Kang K.H.; Karyan G.; Kiesling C.; Kim D.Y.; Kim K.T.; Kim S.H.; Korpar S.; Kotchetkov D.; Kri�an P.; Krokovny P.; Kulasiri R.; Kwon Y.-J.; Lange J.S.; Li L.; Li Gioi L.; Liventsev D.; Luo T.; Masuda M.; Matsuda T.; Merola M.; Miyabayashi K.; Miyata H.; Mizuk R.; Mohanty G.B.; Moon H.K.; Mori T.; Nakao M.; Nanut T.; Nath K.J.; Nayak M.; Niiyama M.; Nisar N.K.; Nishida S.; Ogawa S.; Olsen S.L.; Ono H.; Pal B.; Park C.-S.; Park C.W.; Paul S.; Pavelkin I.; Pedlar T.K.; Pestotnik R.; Piilonen L.E.; Popov V.; Pulvermacher C.; Rostomyan A.; Sakai Y.; Salehi M.; Sandilya S.; Sanuki T.; Schneider O.; Schnell G.; Schwanda C.; Seino Y.; Senyo K.; Sevior M.E.; Shebalin V.; Shibata T.-A.; Shiu J.-G.; Shwartz B.; Simon F.; Sokolov A.; Solovieva E.; Stari? M.; Sumiyoshi T.; Takizawa M.; Tanida K.; Tenchini F.; Trabelsi K.; Uchida M.; Uehara S.; Uglov T.; Unno Y.; Uno S.; Usov Y.; Van Hulse C.; Varner G.; Vinokurova A.; Vorobyev V.; Waheed E.; Wang C.H.; Wang M.-Z.; Wang P.; Wang X.L.; Watanabe Y.; Watanuki S.; Won E.; Yamashita Y.; Yusa Y.; Zakharov S.; Zhang Z.P.; Zhilich V.; Zhulanov V.; Zupanc A.; (Belle Collaboration)
2016Belle II silicon vertex detectorAdamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Enami K.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.W.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sandilya S.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Volpi M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2017Belle II silicon vertex detectorDutta D.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli Ti.; Baroncelli To.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Bulla L.; Caria G.; Casarosa G.; Ceccanti M.; Cervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; De Pietro G.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kambara N.; Kang K.H.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kumar R.; Kun W.; Kvasnicka P.; La Licata C.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Libby J.; Lueck T.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Resmi P.K.; Rozanska M.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watanabe M.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; Wrkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.; Zani L.
2018Belle II silicon vertex detector (SVD)Bahinipati S.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Bulla L.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; De Pietro G.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Gobbo B.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kambara N.; Kang K.H.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Komarov I.; Kumar R.; Kun W.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Libby J.; Lee S.C.; Lueck T.; Maki M.; Mammini P.; Martini A.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Resmi P.K.; Rozanska M.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watanabe M.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.; Zani L.; (Belle-II SVD Collaboration)
2017The Belle II silicon vertex detector assembly and mechanicsAdamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Bulla L.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.W.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Lueck T.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.; Belle-II SVD Collaboration
2019The Belle II silicon vertex detector: Assembly and initial resultsThalmeier R.; Casarosa G.; Schwanda C.; Aihara H.; Aziz T.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bertacchi V.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Caria G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Czank T.; Dash N.; De Nuccio M.; Dole�al Z.; Forti F.; Friedl M.; Gobbo B.; Grimaldo J.A.M.; Hara K.; Higuchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kaleta M.; Kandra J.; Kambara N.; Kang K.H.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Komarov I.; Kumar M.; Kumar R.; Kun W.; Kvasni?ka P.; La Licata C.; Lalwani K.; Lanceri L.; Lee J.Y.; Lee S.C.; Libby J.; Lueck T.; Mammini P.; Martini A.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Prasanth K.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Resmi P.K.; Rozanska M.; Sahoo D.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanigawa H.; Taylor G.N.; Tsuboyama T.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watanabe M.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; Yin H.; Zani L.; (Belle-II SVD Collaboration)
2017The Belle II SVD data readout systemThalmeier R.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Bulla L.; Casarosa G.; Ceccanti M.; Cervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole?al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody? P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Lueck T.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaya I.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2016Belle II SVD ladder assembly procedure and electrical qualificationAdamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaya I.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sandilya S.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Volpi M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2019The Belle II vertex detector integrationKody� P.; Abudinen F.; Ackermann K.; Ahlburg P.; Aihara H.; Albalawi M.; Alonso O.; Andricek L.; Ayad R.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Bai Y.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bertacchi V.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Blanco R.; Bosi F.; Boronat M.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Camien C.; Caldwell A.; Caria G.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chekelian V.; Czank T.; Dash N.; De Nuccio M.; Deschamps B.; Dieguez A.; Dingfelder J.; Dole�al Z.; Esperante D.; Fischer P.; Forti F.; Fras M.; Frey A.; Friedl M.; Fuster J.; Gabriel M.; Gadow K.; Gebauer U.; Germic L.; Gessler T.; Getzkow D.; Gioi L.; Gobbo B.; Gomis P.; Grimaldo J.A.M.; Hara K.; Heck M.; Hemperek T.; Hensel M.; Higuchi T.; Hoek M.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kaleta M.; Kandra J.; Kambara N.; Kang K.H.; Kapusta P.; Kiesling C.; Kisielewski B.; Kittlinger D.; Klose D.; Koffmane C.; Kohriki T.; Koike S.; Komarov I.; Konorov I.; Krivokuca S.; Kr�ger H.; Kuhr T.; K�hn W.; Kumar M.; Kumar R.; Kun W.; Kvasni?ka P.; La Licata C.; Lacasta C.; Lalwani K.; Lanceri L.; Lange J.S.; Lautenbach K.; Lee J.Y.; Lee S.C.; Leis U.; Leitl P.; Levit D.; Libby J.; Liemann G.; Liu Z.; Lueck T.; L�tticke F.; Macharski L.; Mammini P.; Mari�as C.; Martini A.; Mayekar S.N.; Mccarney S.; Mohanty G.B.; Morii T.; Moser H.G.; Moya D.; Mueller F.J.; M�ller F.; M�nchow D.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Niebuhr C.; Ninkovic J.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Packheiser U.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Paschen B.; Paul S.; Peric I.; Poblotzki F.; Prasanth K.; Profeti A.; Rabusov A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Reiter S.P.; P.K. R.; Richter R.; Ritter M.; Ritzert M.; Rizzo G.; Rozanska M.; Rummel S.; Sahoo D.; Sanchez J.G.; Sasaki J.; Sato N.; Scavino B.; Schaller G.; Schnecke M.; Schopper F.; Schreeck H.; Schultschik S.; Schwanda C.; Schwenker B.; Sedlmeyer R.; Sfienti C.; Simon F.; Skambraks S.; Soloviev Y.; Spruck B.; Stever R.; Stolzenberg U.; Stypula J.; Suzuki J.; Tafelmayer E.; Takahashi M.; Tanaka S.; Tanigawa H.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Tsuboyama T.; Urquijo P.; Vila I.; Virto A.L.; Vitale L.; Vogt S.; Vos M.; Wang C.; Watanuki S.; Watanabe M.; Watson I.J.; Webb J.; Wermes N.; Wessel C.; Wiechczynski J.; Wieduwilt P.; Williams S.; Windel H.; Ye H.; Yin H.; Zani L.; Zhao J.; (Belle II DEPFET, PXD, and SVD Collaborations)
2016Belle-II VXD radiation monitoring and beam abort with sCVD diamond sensorsAdamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sandilya S.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Volpi M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2016A bonding study toward the quality assurance of Belle-II silicon vertex detector modulesKang K.H.; Jeon H.B.; Park H.; Uozumi S.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Joo C.W.; Kandra J.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Pilo F.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaia I.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sandilya S.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Urquijo P.; Vitale L.; Volpi M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2019Commissioning of the Belle II Silicon Vertex DetectorCasarosa G.; Aihara H.; Aziz T.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bertacchi V.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Caria G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Corona L.; Czank T.; Dash N.; De Nuccio M.; Dole�al Z.; Forti F.; Friedl M.; Gobbo B.; Grimaldo J.A.M.; Halder S.; Hara K.; Higuchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kaleta M.; Kandra J.; Kang K.H.; Kody� P.; Kohriki T.; Komarov I.; Kumar M.; Kumar R.; Kvasni?ka P.; La Licata C.; Lalwani K.; Lanceri L.; Lee J.Y.; Lee S.C.; Li Y.; Libby J.; Lueck T.; Mammini P.; Martini A.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Prasanth K.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaya I.; Resmi P.K.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sahoo D.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanigawa H.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Tsuboyama T.; Urquijo P.; Vitale L.; Wan K.; Watanabe M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; Yin H.; Zani L.; Belle II SVD Collaboration
2018Construction and quality assurance of the Belle II silicon vertex detectorResmi P.K.; Aihara H.; Aziz T.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli Ti.; Baroncelli To.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bertacchi V.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Caria G.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Czank T.; Dash N.; de Nuccio M.; Dole�al Z.; Forti F.; Friedl M.; Gobbo B.; Grimaldo J.A.M.; Hara K.; Higuchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kaleta M.; Kandra J.; Kang K.H.; Kody� P.; Kohriki T.; Komarov I.; Kumar M.; Kumar R.; Kvasni?ka P.; la Licata C.; Lalwani K.; Lanceri L.; Lee J.Y.; Lee S.C.; Li Y.; Libby J.; Lueck T.; Mammini P.; Martini A.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Prasanth K.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaya I.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sahoo D.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanigawa H.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Tsuboyama T.; Urquijo P.; Vitale L.; Wan K.; Watanabe M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; Yin H.; Zani L.; Belle II SVD Collaboration
2016Construction and test of the first Belle II SVD ladder implementing the origami chip-on-sensor designIrmler C.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Fr�hwirth R.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaia I.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sandilya S.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Volpi M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2017Electronics and firmware of the belle II silicon vertex detector readout systemThalmeier R.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipat S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batgnani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Bulla L.; Caria G.; Casarosa G.; Ceccant M.; Cervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; De Pietro G.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Fort F.; Friedl M.; Gobbo B.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kambara N.; Kang K.H.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Komarov I.; Kumar R.; Kun W.; Kvasnicka P.; La Licata C.; Lanceri L.; Lee S.C.; Lettenbichler J.; Libby J.; Lueck T.; Maki M.; Mammini P.; Martni A.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profet A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Resmi P.K.; Rozanska M.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Taylor G.N.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watanabe M.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.; Zani L.; Belle-II SVD Collaboraton
2016EMC studies for the vertex detector of the Belle II experimentThalmeier R.; Iglesias M.; Arteche F.; Echeverria I.; Friedl M.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Ceccanti M.; Cervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kiesling C.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasnicka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Moser H.G.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaia I.; Rizzo G.; Rozanska M.; Rummel S.; Sandilya S.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Volpi M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2017Evidence for Isospin Violation and Measurement of CP Asymmetries in B ?k? (892)?Horiguchi T.; Ishikawa A.; Yamamoto H.; Adachi I.; Aihara H.; Al Said S.; Asner D.M.; Aulchenko V.; Aushev T.; Ayad R.; Babu V.; Badhrees I.; Bakich A.M.; Bansal V.; Behera P.; Bhardwaj V.; Bhuyan B.; Biswal J.; Bobrov A.; Bonvicini G.; Bozek A.; Bra?ko M.; Browder T.E.; ?ervenkov D.; Chekelian V.; Chen A.; Cheon B.G.; Chilikin K.; Cho K.; Choi Y.; Cinabro D.; Czank T.; Dash N.; Di Carlo S.; Dole�al Z.; Dr�sal Z.; Dutta D.; Eidelman S.; Epifanov D.; Farhat H.; Fast J.E.; Ferber T.; Fulsom B.G.; Gaur V.; Gabyshev N.; Garmash A.; Gelb M.; Gillard R.; Goldenzweig P.; Golob B.; Guan Y.; Guido E.; Haba J.; Hara T.; Hayasaka K.; Hayashii H.; Hedges M.T.; Higuchi T.; Hirose S.; Hou W.-S.; Iijima T.; Inami K.; Inguglia G.; Itoh R.; Iwasaki Y.; Jacobs W.W.; Jaegle I.; Jeon H.B.; Jia S.; Jin Y.; Joffe D.; Joo K.K.; Julius T.; Kang K.H.; Kawasaki T.; Kim D.Y.; Kim J.B.; Kim K.T.; Kim M.J.; Kim S.H.; Kim Y.J.; Kinoshita K.; Kody� P.; Korpar S.; Kotchetkov D.; Kri�an P.; Krokovny P.; Kuhr T.; Kulasiri R.; Kumar R.; Kumita T.; Kuzmin A.; Kwon Y.-J.; Lange J.S.; Li C.H.; Li L.; Li Gioi L.; Libby J.; Liventsev D.; Lubej M.; Luo T.; Masuda M.; Matsuda T.; Matvienko D.; Merola M.; Miyabayashi K.; Miyata H.; Mizuk R.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Moon H.K.; Mori T.; Mussa R.; Nakano E.; Nakao M.; Nanut T.; Nath K.J.; Natkaniec Z.; Nayak M.; Nisar N.K.; Nishida S.; Ogawa S.; Okuno S.; Ono H.; Pakhlov P.; Pakhlova G.; Pal B.; Pardi S.; Park C.-S.; Park H.; Paul S.; Pedlar T.K.; Pestotnik R.; Piilonen L.E.; Prasanth K.; Pulvermacher C.; Rauch J.; Rostomyan A.; Sakai Y.; Sandilya S.; Santelj L.; Savinov V.; Schneider O.; Schnell G.; Schwanda C.; Schwartz A.J.; Seino Y.; Senyo K.; Seong I.S.; Sevior M.E.; Shebalin V.; Shen C.P.; Shibata T.-A.; Shiu J.-G.; Simon F.; Sokolov A.; Solovieva E.; Stari? M.; Strube J.F.; Sumisawa K.; Sumiyoshi T.; Takizawa M.; Tamponi U.; Tanida K.; Tenchini F.; Trabelsi K.; Uchida M.; Uglov T.; Unno Y.; Uno S.; Urquijo P.; Ushiroda Y.; Usov Y.; Van Hulse C.; Varner G.; Vinokurova A.; Vorobyev V.; Vossen A.; Wang C.H.; Wang M.-Z.; Wang P.; Watanabe Y.; Watanuki S.; Weber T.; Widmann E.; Won E.; Yamashita Y.; Ye H.; Zhang Z.P.; Zhilich V.; Zhukova V.; Zhulanov V.; Zupanc A.; Belle Collaboration
2018Evidence of a structure in K�0?c+ consistent with a charged ? c(2930) + , and updated measurement of B�0?K�0?c+?�c- at Belle: Belle CollaborationLi Y.B.; Shen C.P.; Adachi I.; Aihara H.; Al Said S.; Asner D.M.; Aushev T.; Ayad R.; Babu V.; Badhrees I.; Bahinipati S.; Ban Y.; Bansal V.; Behera P.; Bele�o C.; Bhardwaj V.; Bhuyan B.; Biswal J.; Bobrov A.; Bozek A.; Bra?ko M.; Browder T.E.; Cao L.; ?ervenkov D.; Chang P.; Chekelian V.; Chen A.; Cheon B.G.; Chilikin K.; Cho K.; Choi S.-K.; Choi Y.; Choudhury S.; Cinabro D.; Cunliffe S.; Dash N.; Di Carlo S.; Dingfelder J.; Dole�al Z.; Dong T.V.; Dr�sal Z.; Eidelman S.; Epifanov D.; Fast J.E.; Fulsom B.G.; Garg R.; Gaur V.; Gabyshev N.; Garmash A.; Gelb M.; Giri A.; Goldenzweig P.; Golob B.; Haba J.; Hayasaka K.; Hirose S.; Hou W.-S.; Iijima T.; Inami K.; Inguglia G.; Ishikawa A.; Itoh R.; Iwasaki M.; Iwasaki Y.; Jacobs W.W.; Jaegle I.; Jeon H.B.; Jia S.; Jin Y.; Joo K.K.; Kaliyar A.B.; Kang K.H.; Kato Y.; Kawasaki T.; Kim D.Y.; Kim J.B.; Kim S.H.; Kinoshita K.; Kody� P.; Korpar S.; Kotchetkov D.; Kri�an P.; Kroeger R.; Krokovny P.; Kuhr T.; Kwon Y.-J.; Lange J.S.; Lee I.S.; Lee S.C.; Li L.K.; Li Gioi L.; Libby J.; Liventsev D.; Luo T.; Matvienko D.; Merola M.; Miyata H.; Mizuk R.; Moon H.K.; Mori T.; Mussa R.; Nakano E.; Nanut T.; Nath K.J.; Natkaniec Z.; Nayak M.; Nisar N.K.; Nishida S.; Nishimura K.; Ogawa K.; Okuno S.; Ono H.; Pakhlov P.; Pakhlova G.; Pal B.; Pardi S.; Park H.; Paul S.; Pedlar T.K.; Pestotnik R.; Piilonen L.E.; Popov V.; Prencipe E.; Rostomyan A.; Russo G.; Sakai Y.; Salehi M.; Sandilya S.; Santelj L.; Sanuki T.; Savinov V.; Schneider O.; Schnell G.; Schwanda C.; Seino Y.; Senyo K.; Seon O.; Sevior M.E.; Shibata T.-A.; Shiu J.-G.; Solovieva E.; Stari? M.; Strube J.F.; Sumihama M.; Sumiyoshi T.; Takizawa M.; Tamponi U.; Tanida K.; Tenchini F.; Uchida M.; Uglov T.; Unno Y.; Uno S.; Usov Y.; Van Hulse C.; Van Tonder R.; Varner G.; Varvell K.E.; Vorobyev V.; Waheed E.; Wang B.; Wang C.H.; Wang M.-Z.; Wang P.; Wang X.L.; Watanuki S.; Widmann E.; Won E.; Ye H.; Yelton J.; Yin J.H.; Yuan C.Z.; Yusa Y.; Zhang Z.P.; Zhilich V.; Zhukova V.; Zhulanov V.
2019First measurement of the CKM angle ? 3 withS B � ? D(KS0 ? + ? ? ? 0) K � decaysResmi P.K.; Libby J.; Trabelsi K.; Adachi I.; Aihara H.; Al Said S.; Asner D.M.; Aulchenko V.; Aushev T.; Babu V.; Badhrees I.; Bakich A.M.; Bele�o C.; Bennett J.; Bhardwaj V.; Bhuyan B.; Bilka T.; Biswal J.; Bozek A.; Bra?ko M.; Campajola M.; ?ervenkov D.; Chen A.; Cheon B.G.; Cho H.E.; Cho K.; Choi Y.; Choudhury S.; Cinabro D.; Cunliffe S.; Dash N.; De Nardo G.; Di Capua F.; Di Carlo S.; Dole�al Z.; Dong T.V.; Eidelman S.; Epifanov D.; Fast J.E.; Ferber T.; Fulsom B.G.; Garg R.; Gaur V.; Gabyshev N.; Garmash A.; Giri A.; Goldenzweig P.; Golob B.; Guan Y.; Hayasaka K.; Hayashii H.; Hou W.-S.; Huang K.; Iijima T.; Inami K.; Inguglia G.; Ishikawa A.; Itoh R.; Iwasaki M.; Iwasaki Y.; Jacobs W.W.; Jeon H.B.; Jin Y.; Joffe D.; Kaliyar A.B.; Kang K.H.; Karyan G.; Kawasaki T.; Kiesling C.; Kim D.Y.; Kim K.T.; Kim S.H.; Kinoshita K.; Kody� P.; Kotchetkov D.; Kr?zan P.; Kroeger R.; Krokovny P.; Kuhr T.; Kumar R.; Kuzmin A.; Kwon Y.-J.; Lee S.C.; Li Y.B.; Lieret K.; Liventsev D.; Lu P.-C.; Luo T.; MacQueen C.; Masuda M.; Matsuda T.; Matvienko D.; Merola M.; Miyabayashi K.; Mizuk R.; Mohanty G.B.; Moon H.K.; Nakano T.; Nakao M.; Nath K.J.; Nayak M.; Niiyama M.; Nisar N.K.; Nishida S.; Nishimura K.; Ogawa S.; Ono H.; Onuki Y.; Pakhlov P.; Pakhlova G.; Pal B.; Pardi S.; Park H.; Pedlar T.K.; Pestotnik R.; Piilonen L.E.; Prencipe E.; Prim M.T.; Ritter M.; R�hrken M.; Russo G.; Sahoo D.; Sakai Y.; Sandilya S.; Santelj L.; Sanuki T.; Savinov V.; Schneider O.; Schnell G.; Schwanda C.; Schwartz A.J.; Seino Y.; Senyo K.; Sevior M.E.; Shebalin V.; Shen C.P.; Shiu J.-G.; Shwartz B.; Solovieva E.; Stari? M.; Stottler Z.S.; Strube J.F.; Sumiyoshi T.; Takizawa M.; Tamponi U.; Tanida K.; Tenchini F.; Uchida M.; Uglov T.; Uno S.; Usov Y.; Van Tonder R.; Varner G.; Vinokurova A.; Vorobyev V.; Vossen A.; Wang B.; Wang C.H.; Wang M.-Z.; Wang X.L.; Watanuki S.; Won E.; Yang S.B.; Ye H.; Zhang Z.P.; Zhilich V.; Zhukova V.; The BELLE collaboration
2017Invariant-mass and fractional-energy dependence of inclusive production of dihadrons in e + e ? annihilation at ?s = 10.58 GeVSeidl R.; Adachi I.; Aihara H.; Al Said S.; Asner D.M.; Aushev T.; Ayad R.; Badhrees I.; Bakich A.M.; Bansal V.; Behera P.; Bhardwaj V.; Bhuyan B.; Biswal J.; Bobrov A.; Bozek A.; Bra?ko M.; Browder T.E.; ?ervenkov D.; Chekelian V.; Chen A.; Cheon B.G.; Chilikin K.; Cho K.; Choi S.-K.; Choi Y.; Cinabro D.; Dash N.; Di Carlo S.; Dole�al Z.; Dr�sal Z.; Eidelman S.; Farhat H.; Fast J.E.; Ferber T.; Fulsom B.G.; Gaur V.; Gabyshev N.; Garmash A.; Gillard R.; Goldenzweig P.; Guido E.; Haba J.; Hayasaka K.; Hayashii H.; Hou W.-S.; Iijima T.; Inami K.; Ishikawa A.; Itoh R.; Iwasaki Y.; Jacobs W.W.; Jaegle I.; Jeon H.B.; Jia S.; Jin Y.; Joffe D.; Joo K.K.; Julius T.; Kang K.H.; Karyan G.; Kim D.Y.; Kim J.B.; Kim K.T.; Kim M.J.; Kim S.H.; Kim Y.J.; Kinoshita K.; Kody� P.; Korpar S.; Kotchetkov D.; Kri�an P.; Krokovny P.; Kulasiri R.; Kumita T.; Kuzmin A.; Kwon Y.-J.; Lange J.S.; Li L.; Li Gioi L.; Libby J.; Liventsev D.; Lubej M.; Luo T.; Masuda M.; Matsuda T.; Matvienko D.; Merola M.; Miyabayashi K.; Miyata H.; Mizuk R.; Moon H.K.; Mori T.; Mussa R.; Nakano E.; Nakao M.; Nanut T.; Nath K.J.; Natkaniec Z.; Niiyama M.; Nisar N.K.; Nishida S.; Ogawa S.; Ono H.; Pakhlov P.; Pakhlova G.; Pal B.; Pardi S.; Park H.; Paul S.; Pedlar T.K.; Pestotnik R.; Piilonen L.E.; Pulvermacher C.; Ritter M.; Rostomyan A.; Sakai Y.; Santelj L.; Savinov V.; Schneider O.; Schnell G.; Schwanda C.; Seino Y.; Senyo K.; Sevior M.E.; Shebalin V.; Shen C.P.; Shibata T.-A.; Shiu J.-G.; Shwartz B.; Simon F.; Sokolov A.; Solovieva E.; Stari? M.; Strube J.F.; Sumisawa K.; Sumiyoshi T.; Takizawa M.; Tamponi U.; Tanida K.; Tenchini F.; Uchida M.; Uglov T.; Unno Y.; Uno S.; Van Hulse C.; Varner G.; Vorobyev V.; Vossen A.; Wang C.H.; Wang P.; Watanabe M.; Watanabe Y.; Watanuki S.; Widmann E.; Won E.; Yamashita Y.; Ye H.; Zhang Z.P.; Zhilich V.; Zhukova V.; Zhulanov V.; Zupanc A.