IDR Logo

Browsing by Author Pesantez L.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
or enter first few letters:  
Showing results 1 to 2 of 2
Issue DateTitleAuthor(s)
2016First model-independent Dalitz analysis of B0 ? DK?0, D ? KS ?+?-decayNegishi K.; Ishikawa A.; Yamamoto H.; Abdesselam A.; Adachi I.; Aihara H.; Said A.Al.; Asner D.M.; Aulchenko V.; Aushev T.; Ayad R.; Babu V.; Badhrees I.; Bahinipati S.; Bakich A.M.; Barberio E.; Biswal J.; Bonvicini G.; Bozek A.; Bracko M.; Browder T.E.; Chekelian V.; Chen A.; Cheon B.G.; Chilikin K.; Chistov R.; Cho K.; Chobanova V.; Choi S.-K.; Choi Y.; Cinabro D.; Dalseno J.; Danilov M.; Dolezal Z.; Drutskoy A.; Dutta D.; Eidelman S.; Farhat H.; Fast J.E.; Ferber T.; Fulsom B.G.; Gaur V.; Gabyshev N.; Garmash A.; Getzkow D.; Gillard R.; Glattauer R.; Goh Y.M.; Goldenzweig P.; Golob B.; Grzymkowska O.; Haba J.; Hara T.; Hayasaka K.; Hayashii H.; He X.H.; Horiguchi T.; Hou W.-S.; Iijima T.; Inami K.; Itoh R.; Iwasaki Y.; Jaegle I.; Joffe D.; Joo K.K.; Julius T.; Kang K.H.; Kawasaki T.; Kiesling C.; Kim D.Y.; Kim J.B.; Kim J.H.; Kim K.T.; Kim M.J.; Kim S.H.; Kim Y.J.; Kinoshita K.; Ko B.R.; Kodys P.; Korpar S.; Krizan P.; Krokovny P.; Kumita T.; Kuzmin A.; Kwon Y.-J.; Lange J.S.; Lee I.S.; Lewis P.; Li Y.; Li Gioi L.; Libby J.; Liventsev D.; Lukin P.; Masuda M.; Matvienko D.; Miyabayashi K.; Miyata H.; Mizuk R.; Mohanty G.B.; Moll A.; Moon H.K.; Mussa R.; Nakao M.; Nanut T.; Natkaniec Z.; Nayak M.; Nisar N.K.; Nishida S.; Ogawa S.; Okuno S.; Onuki Y.; Pakhlov P.; Pakhlova G.; Pal B.; Park C.W.; Park H.; Pedlar T.K.; Pesantez L.; Pestotnik R.; Petric M.; Piilonen L.E.; Pulvermacher C.; Ribezl E.; Ritter M.; Rostomyan A.; Sakai Y.; Sandilya S.; Santelj L.; Sanuki T.; Sato Y.; Savinov V.; Schneider O.; Schnell G.; Schwanda C.; Senyo K.; Sevior M.E.; Shebalin V.; Shen C.P.; Shibata T.-A.; Shiu J.-G.; Simon F.; Sohn Y.-S.; Solovieva E.; Stanic S.; Staric M.; Steder M.; Sumihama M.; Sumiyoshi T.; Tamponi U.; Teramoto Y.; Uchida M.; Unno Y.; Uno S.; Urquijo P.; Van Hulse C.; Vanhoefer P.; Varner G.; Vinokurova A.; Vossen A.; Wagner M.N.; Wang C.H.; Wang M.-Z.; Wang P.; Wang X.L.; Watanabe M.; Watanabe Y.; Wehle S.; Williams K.M.; Won E.; Yamaoka J.; Yamashita Y.; Yashchenko S.; Yelton J.; Yook Y.; Yuan C.Z.; Yusa Y.; Zhang Z.P.; Zhilich V.; Zhulanov V.; Zupanc A.
2014Measurement of the branching fraction of B+ ? ?+?? decays with the semileptonic tagging method and the full Belle data sampleAbdesselam A.; Adachi I.; Adamczyk K.; Aihara H.; Al Said S.; Arinstein K.; Arita Y.; Asner D.M.; Aso T.; Aulchenko V.; Aushev T.; Ayad R.; Aziz T.; Bahinipati S.; Bakich A.M.; Bala A.; Ban Y.; Bansal V.; Barberio E.; Barrett M.; Bartel W.; Bay A.; Bedny I.; Behera P.; Belhorn M.; Belous K.; Bhardwaj V.; Bhuyan B.; Bischofberger M.; Blyth S.; Bobrov A.; Bondar A.; Bonvicini G.; Bookwalter C.; Boulahouache C.; Bozek A.; Bra?ko M.; Brodzicka J.; Brovchenko O.; Browder T.E.; ?ervenkov D.; Chang M.-C.; Chang P.; Chao Y.; Chekelian V.; Chen A.; Chen K.-F.; Chen P.; Cheon B.G.; Chilikin K.; Chistov R.; Cho K.; Chobanova V.; Choi S.-K.; Choi Y.; Cinabro D.; Crnkovic J.; Dalseno J.; Danilov M.; Dingfelder J.; Dole�al Z.; Dr�sal Z.; Drutskoy A.; Dutta D.; Dutta K.; Eidelman S.; Epifanov D.; Esen S.; Farhat H.; Fast J.E.; Feindt M.; Ferber T.; Frey A.; Frost O.; Fujikawa M.; Gaur V.; Gabyshev N.; Ganguly S.; Garmash A.; Gillard R.; Giordano F.; Glattauer R.; Goh Y.M.; Golob B.; Grosse Perdekamp M.; Grzymkowska O.; Guo H.; Haba J.; Hamer P.; Han Y.L.; Hara K.; Hara T.; Hasegawa Y.; Hasenbusch J.; Hayasaka K.; Hayashii H.; He X.H.; Heck M.; Heffernan D.; Heider M.; Higuchi T.; Himori S.; Horiguchi T.; Horii Y.; Hoshi Y.; Hoshina K.; Hou W.-S.; Hsiung Y.B.; Huschle M.; Hyun H.J.; Igarashi Y.; Iijima T.; Imamura M.; Inami K.; Ishikawa A.; Itagaki K.; Itoh R.; Iwabuchi M.; Iwasaki M.; Iwasaki Y.; Iwashita T.; Iwata S.; Jaegle I.; Jones M.; Joo K.K.; Julius T.; Kah D.H.; Kakuno H.; Kang J.H.; Kapusta P.; Kataoka S.U.; Katayama N.; Kato E.; Kato Y.; Katrenko P.; Kawai H.; Kawasaki T.; Kichimi H.; Kiesling C.; Kim B.H.; Kim D.Y.; Kim H.J.; Kim H.O.; Kim J.B.; Kim J.H.; Kim K.T.; Kim M.J.; Kim S.K.; Kim Y.J.; Kinoshita K.; Kleinwort C.; Klucar J.; Ko B.R.; Kobayashi N.; Koblitz S.; Kody� P.; Koga Y.; Korpar S.; Kouzes R.T.; Kri�an P.; Krokovny P.; Kronenbitter B.; Kuhr T.; Kumar R.; Kumita T.; Kurihara E.; Kuroki Y.; Kuzmin A.; Kvasni?ka P.; Kwon Y.-J.; Lai Y.-T.; Lange J.S.; Lee S.-H.; Leitgab M.; Leitner R.; Li J.; Li X.; Li Y.; Li Gioi L.; Libby J.; Limosani A.; Liu C.; Liu Y.; Liu Z.Q.; Liventsev D.; Louvot R.; Lukin P.; MacNaughton J.; Matvienko D.; Matyja A.; McOnie S.; Mikami Y.; Miyabayashi K.; Miyachi Y.; Miyake H.; Miyata H.; Miyazaki Y.; Mizuk R.; Mohanty G.B.; Mohapatra D.; Moll A.; Mori T.; Moser H.-G.; M�ller T.; Muramatsu N.; Mussa R.; Nagamine T.; Nagasaka Y.; Nakahama Y.; Nakamura I.; Nakamura K.; Nakano E.; Nakano H.; Nakano T.; Nakao M.; Nakayama H.; Nakazawa H.; Nanut T.; Natkaniec Z.; Nayak M.; Nedelkovska E.; Negishi K.; Neichi K.; Ng C.; Niebuhr C.; Niiyama M.; Nisar N.K.; Nishida S.; Nishimura K.; Nitoh O.; Nozaki T.; Ogawa A.; Ogawa S.; Ohshima T.; Okuno S.; Olsen S.L.; Ono Y.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Oswald C.; Ozaki H.; Pakhlov P.; Pakhlova G.; Palka H.; Panzenb�ck E.; Park C.-S.; Park C.W.; Park H.; Park H.K.; Park K.S.; Peak L.S.; Pedlar T.K.; Peng T.; Pesantez L.; Pestotnik R.; Peters M.; Petri? M.; Piilonen L.E.; Poluektov A.; Prim M.; Prothmann K.; Reisert B.; Ribe�l E.; Ritter M.; R�hrken M.; Rorie J.; Rostomyan A.; Rozanska M.; Ryu S.; Sahoo H.; Saito T.; Sakai K.; Sakai Y.; Sandilya S.; Santel D.; Santelj L.; Sanuki T.; Sasao N.; Sato Y.; Savinov V.; Schneider O.; Schnell G.; Sch�nmeier P.; Schram M.; Schwanda C.; Schwartz A.J.; Schwenker B.; Seidl R.; Sekiya A.; Semmler D.; Senyo K.; Seon O.; Sevior M.E.; Shang L.; Shapkin M.; Shebalin V.; Shen C.P.; Shibata T.-A.; Shibuya H.; Shinomiya S.; Shiu J.-G.; Shwartz B.; Sibidanov A.; Simon F.; Singh J.B.; Sinha R.; Smerkol P.; Sohn Y.-S.; Sokolov A.; Soloviev Y.; Solovieva E.; Stani? S.; Stari? M.; Steder M.; Stypula J.; Sugihara S.; Sugiyama A.; Sumihama M.; Sumisawa K.; Sumiyoshi T.; Suzuki K.; Suzuki S.; Suzuki S.Y.; Suzuki Z.; Takeichi H.; Tamponi U.; Tanaka M.; Tanaka S.; Tanida K.; Taniguchi N.; Tatishvili G.; Taylor G.N.; Teramoto Y.; Thorne F.; Tikhomirov I.; Trabelsi K.; Tse Y.F.; Tsuboyama T.; Uchida M.; Uchida T.; Uchida Y.; Uehara S.; Ueno K.; Uglov T.; Unno Y.; Uno S.; Urquijo P.; Ushiroda Y.; Usov Y.; Vahsen S.E.; Van Hulse C.; Vanhoefer P.; Varner G.; Varvell K.E.; Vervink K.; Vinokurova A.; Vorobyev V.; Vossen A.; Wagner M.N.; Wang C.H.; Wang J.; Wang M.-Z.; Wang P.; Wang X.L.; Watanabe M.; Watanabe Y.; Wedd R.; Wehle S.; White E.; Wiechczynski J.; Williams K.M.; Won E.; Yabsley B.D.; Yamada S.; Yamamoto H.; Yamaoka J.; Yamashita Y.; Yamauchi M.; Yashchenko S.; Yook Y.; Yuan C.Z.; Yusa Y.; Zander D.; Zhang C.C.; Zhang L.M.; Zhang Z.P.; Zhao L.; Zhilich V.; Zhou P.; Zhulanov V.; Zivko T.; Zupanc A.; Zwahlen N.; Zyukova O.