IDR Logo

Browsing by Author Mohanty S.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
or enter first few letters:  
Showing results 1 to 20 of 41  next >
Issue DateTitleAuthor(s)
2016Belle II silicon vertex detectorAdamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Enami K.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.W.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sandilya S.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Volpi M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2017Belle II silicon vertex detectorDutta D.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli Ti.; Baroncelli To.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Bulla L.; Caria G.; Casarosa G.; Ceccanti M.; Cervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; De Pietro G.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kambara N.; Kang K.H.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kumar R.; Kun W.; Kvasnicka P.; La Licata C.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Libby J.; Lueck T.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Resmi P.K.; Rozanska M.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watanabe M.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; Wrkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.; Zani L.
2018Belle II silicon vertex detector (SVD)Bahinipati S.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Bulla L.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; De Pietro G.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Gobbo B.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kambara N.; Kang K.H.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Komarov I.; Kumar R.; Kun W.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Libby J.; Lee S.C.; Lueck T.; Maki M.; Mammini P.; Martini A.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Resmi P.K.; Rozanska M.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watanabe M.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.; Zani L.; (Belle-II SVD Collaboration)
2017The Belle II silicon vertex detector assembly and mechanicsAdamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Bulla L.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.W.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Lueck T.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.; Belle-II SVD Collaboration
2017The Belle II SVD data readout systemThalmeier R.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Bulla L.; Casarosa G.; Ceccanti M.; Cervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole?al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody? P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Lueck T.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaya I.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2016Belle II SVD ladder assembly procedure and electrical qualificationAdamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaya I.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sandilya S.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Volpi M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2016Belle-II VXD radiation monitoring and beam abort with sCVD diamond sensorsAdamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sandilya S.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Volpi M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2016A bonding study toward the quality assurance of Belle-II silicon vertex detector modulesKang K.H.; Jeon H.B.; Park H.; Uozumi S.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Joo C.W.; Kandra J.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Pilo F.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaia I.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sandilya S.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Urquijo P.; Vitale L.; Volpi M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2016Compensation of voltage sag using DVR with PI controllerGanthia B.P.; Mohanty S.; Rana P.K.; Sahu P.K.
2016Construction and test of the first Belle II SVD ladder implementing the origami chip-on-sensor designIrmler C.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Fr�hwirth R.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaia I.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sandilya S.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Volpi M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2017Electronics and firmware of the belle II silicon vertex detector readout systemThalmeier R.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipat S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batgnani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Bulla L.; Caria G.; Casarosa G.; Ceccant M.; Cervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; De Pietro G.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Fort F.; Friedl M.; Gobbo B.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kambara N.; Kang K.H.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Komarov I.; Kumar R.; Kun W.; Kvasnicka P.; La Licata C.; Lanceri L.; Lee S.C.; Lettenbichler J.; Libby J.; Lueck T.; Maki M.; Mammini P.; Martni A.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profet A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Resmi P.K.; Rozanska M.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Taylor G.N.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watanabe M.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.; Zani L.; Belle-II SVD Collaboraton
2016EMC studies for the vertex detector of the Belle II experimentThalmeier R.; Iglesias M.; Arteche F.; Echeverria I.; Friedl M.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Ceccanti M.; Cervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kiesling C.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasnicka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Moser H.G.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaia I.; Rizzo G.; Rozanska M.; Rummel S.; Sandilya S.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Volpi M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2017Evidence for Isospin Violation and Measurement of CP Asymmetries in B ?k? (892)?Horiguchi T.; Ishikawa A.; Yamamoto H.; Adachi I.; Aihara H.; Al Said S.; Asner D.M.; Aulchenko V.; Aushev T.; Ayad R.; Babu V.; Badhrees I.; Bakich A.M.; Bansal V.; Behera P.; Bhardwaj V.; Bhuyan B.; Biswal J.; Bobrov A.; Bonvicini G.; Bozek A.; Bra?ko M.; Browder T.E.; ?ervenkov D.; Chekelian V.; Chen A.; Cheon B.G.; Chilikin K.; Cho K.; Choi Y.; Cinabro D.; Czank T.; Dash N.; Di Carlo S.; Dole�al Z.; Dr�sal Z.; Dutta D.; Eidelman S.; Epifanov D.; Farhat H.; Fast J.E.; Ferber T.; Fulsom B.G.; Gaur V.; Gabyshev N.; Garmash A.; Gelb M.; Gillard R.; Goldenzweig P.; Golob B.; Guan Y.; Guido E.; Haba J.; Hara T.; Hayasaka K.; Hayashii H.; Hedges M.T.; Higuchi T.; Hirose S.; Hou W.-S.; Iijima T.; Inami K.; Inguglia G.; Itoh R.; Iwasaki Y.; Jacobs W.W.; Jaegle I.; Jeon H.B.; Jia S.; Jin Y.; Joffe D.; Joo K.K.; Julius T.; Kang K.H.; Kawasaki T.; Kim D.Y.; Kim J.B.; Kim K.T.; Kim M.J.; Kim S.H.; Kim Y.J.; Kinoshita K.; Kody� P.; Korpar S.; Kotchetkov D.; Kri�an P.; Krokovny P.; Kuhr T.; Kulasiri R.; Kumar R.; Kumita T.; Kuzmin A.; Kwon Y.-J.; Lange J.S.; Li C.H.; Li L.; Li Gioi L.; Libby J.; Liventsev D.; Lubej M.; Luo T.; Masuda M.; Matsuda T.; Matvienko D.; Merola M.; Miyabayashi K.; Miyata H.; Mizuk R.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Moon H.K.; Mori T.; Mussa R.; Nakano E.; Nakao M.; Nanut T.; Nath K.J.; Natkaniec Z.; Nayak M.; Nisar N.K.; Nishida S.; Ogawa S.; Okuno S.; Ono H.; Pakhlov P.; Pakhlova G.; Pal B.; Pardi S.; Park C.-S.; Park H.; Paul S.; Pedlar T.K.; Pestotnik R.; Piilonen L.E.; Prasanth K.; Pulvermacher C.; Rauch J.; Rostomyan A.; Sakai Y.; Sandilya S.; Santelj L.; Savinov V.; Schneider O.; Schnell G.; Schwanda C.; Schwartz A.J.; Seino Y.; Senyo K.; Seong I.S.; Sevior M.E.; Shebalin V.; Shen C.P.; Shibata T.-A.; Shiu J.-G.; Simon F.; Sokolov A.; Solovieva E.; Stari? M.; Strube J.F.; Sumisawa K.; Sumiyoshi T.; Takizawa M.; Tamponi U.; Tanida K.; Tenchini F.; Trabelsi K.; Uchida M.; Uglov T.; Unno Y.; Uno S.; Urquijo P.; Ushiroda Y.; Usov Y.; Van Hulse C.; Varner G.; Vinokurova A.; Vorobyev V.; Vossen A.; Wang C.H.; Wang M.-Z.; Wang P.; Watanabe Y.; Watanuki S.; Weber T.; Widmann E.; Won E.; Yamashita Y.; Ye H.; Zhang Z.P.; Zhilich V.; Zhukova V.; Zhulanov V.; Zupanc A.; Belle Collaboration
2017First measurement of T -odd moments in D0 ? KS0 ?+?-?0 decaysPrasanth K.; Libby J.; Adachi I.; Aihara H.; Al Said S.; Asner D.M.; Aulchenko V.; Aushev T.; Ayad R.; Babu V.; Badhrees I.; Bahinipati S.; Bakich A.M.; Bansal V.; Barberio E.; Berger M.; Bhardwaj V.; Bhuyan B.; Biswal J.; Bobrov A.; Bondar A.; Bonvicini G.; Bozek A.; Bra?ko M.; Browder T.E.; ?ervenkov D.; Chekelian V.; Chen A.; Cheon B.G.; Chilikin K.; Chistov R.; Cho K.; Choi S.-K.; Choi Y.; Cinabro D.; Dash N.; Di Carlo S.; Dole�al Z.; Dr�sal Z.; Dutta D.; Eidelman S.; Epifanov D.; Farhat H.; Fast J.E.; Ferber T.; Fulsom B.G.; Gaur V.; Gabyshev N.; Garmash A.; Gillard R.; Goldenzweig P.; Greenwald D.; Haba J.; Hara T.; Hayasaka K.; Hedges M.T.; Hou W.-S.; Inami K.; Ishikawa A.; Itoh R.; Iwasaki Y.; Jacobs W.W.; Jaegle I.; Jeon H.B.; Jin Y.; Joffe D.; Joo K.K.; Julius T.; Kaliyar A.B.; Kang K.H.; Karyan G.; Kawasaki T.; Kiesling C.; Kim D.Y.; Kim J.B.; Kim K.T.; Kim M.J.; Kim S.H.; Kim Y.J.; Kinoshita K.; Kody� P.; Korpar S.; Kotchetkov D.; Kri�an P.; Krokovny P.; Kuhr T.; Kulasiri R.; Kumar R.; Kumita T.; Kuzmin A.; Kwon Y.-J.; Lange J.S.; Lee I.S.; Li C.H.; Li L.; Li Gioi L.; Liventsev D.; Lubej M.; Luo T.; Masuda M.; Matsuda T.; Matvienko D.; Miyabayashi K.; Miyata H.; Mizuk R.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Moon H.K.; Mori T.; Mussa R.; Nakamura K.R.; Nakao M.; Nanut T.; Nath K.J.; Natkaniec Z.; Nayak M.; Niiyama M.; Nisar N.K.; Nishida S.; Ogawa S.; Okuno S.; Ono H.; Pakhlov P.; Pakhlova G.; Pal B.; Park C.-S.; Park H.; Paul S.; Pes�ntez L.; Pestotnik R.; Piilonen L.E.; Pulvermacher C.; Ritter M.; Rostomyan A.; Sakai Y.; Salehi M.; Sandilya S.; Santelj L.; Sanuki T.; Sato Y.; Schneider O.; Schnell G.; Schwanda C.; Schwartz A.J.; Seino Y.; Senyo K.; Sevior M.E.; Shebalin V.; Shen C.P.; Shibata T.-A.; Shiu J.-G.; Shwartz B.; Simon F.; Sinha R.; Sokolov A.; Solovieva E.; Stari? M.; Strube J.F.; Sumisawa K.; Sumiyoshi T.; Takizawa M.; Tamponi U.; Tanida K.; Tenchini F.; Trabelsi K.; Uchida M.; Uehara S.; Uglov T.; Unno Y.; Uno S.; Urquijo P.; Van Hulse C.; Varner G.; Vinokurova A.; Vorobyev V.; Vossen A.; Waheed E.; Wang C.H.; Wang M.-Z.; Wang P.; Watanabe M.; Watanabe Y.; Widmann E.; Williams K.M.; Won E.; Yamamoto H.; Yamashita Y.; Ye H.; Yelton J.; Yook Y.; Yuan C.Z.; Yusa Y.; Zhang Z.P.; Zhilich V.; Zhukova V.; Zhulanov V.; Zupanc A.; (Belle Collaboration)
2016First observation of ?? ?p p K+K- and search for exotic baryons in pK systemsShen C.P.; Yuan C.Z.; Adachi I.; Aihara H.; Asner D.M.; Aulchenko V.; Aushev T.; Ayad R.; Babu V.; Badhrees I.; Bakich A.M.; Barberio E.; Behera P.; Bhardwaj V.; Bhuyan B.; Biswal J.; Bobrov A.; Bonvicini G.; Bozek A.; Bra?ko M.; Browder T.E.; ?ervenkov D.; Chang P.; Chekelian V.; Chen A.; Cheon B.G.; Chilikin K.; Chistov R.; Cho K.; Chobanova V.; Choi S.-K.; Choi Y.; Cinabro D.; Dalseno J.; Danilov M.; Dash N.; Dole�al Z.; Dr�sal Z.; Dutta D.; Eidelman S.; Fang W.X.; Fast J.E.; Ferber T.; Fulsom B.G.; Gaur V.; Gabyshev N.; Garmash A.; Gillard R.; Glattauer R.; Goldenzweig P.; Grzymkowska O.; Haba J.; Hayasaka K.; Hayashii H.; Hou W.-S.; Iijima T.; Inami K.; Inguglia G.; Ishikawa A.; Itoh R.; Iwasaki Y.; Jaegle I.; Jeon H.B.; Joo K.K.; Julius T.; Kang K.H.; Kato E.; Kiesling C.; Kim D.Y.; Kim J.B.; Kim K.T.; Kim S.H.; Kim Y.J.; Kody� P.; Korpar S.; Kotchetkov D.; Kri�an P.; Krokovny P.; Kuzmin A.; Kwon Y.-J.; Lange J.S.; Li C.H.; Li H.; Li L.; Li Y.; Li Gioi L.; Libby J.; Liventsev D.; Lubej M.; Luo T.; Masuda M.; Matsuda T.; Matvienko D.; Miyabayashi K.; Miyata H.; Mizuk R.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Moll A.; Moon H.K.; Mussa R.; Nakano E.; Nakao M.; Nanut T.; Nath K.J.; Natkaniec Z.; Nishida S.; Ogawa S.; Olsen S.L.; Ostrowicz W.; Pakhlov P.; Pakhlova G.; Pal B.; Park C.-S.; Park H.; Pes�ntez L.; Pestotnik R.; Petri? M.; Piilonen L.E.; Pulvermacher C.; Rauch J.; Ritter M.; Sakai Y.; Sandilya S.; Santelj L.; Sanuki T.; Savinov V.; Schl�ter T.; Schneider O.; Schnell G.; Schwanda C.; Seino Y.; Semmler D.; Senyo K.; Seong I.S.; Sevior M.E.; Shibata T.-A.; Shiu J.-G.; Shwartz B.; Simon F.; Sokolov A.; Solovieva E.; Stani? S.; Stari? M.; Strube J.F.; Stypula J.; Sumihama M.; Sumiyoshi T.; Takizawa M.; Tamponi U.; Tanida K.; Tenchini F.; Trabelsi K.; Uchida M.; Uehara S.; Uglov T.; Unno Y.; Uno S.; Urquijo P.; Usov Y.; Van Hulse C.; Varner G.; Wang C.H.; Wang M.-Z.; Wang P.; Watanabe M.; Watanabe Y.; Williams K.M.; Won E.; Yamaoka J.; Yelton J.; Yook Y.; Yusa Y.; Zhang C.C.; Zhang Z.P.; Zhilich V.; Zhukova V.; Zhulanov V.; Zupanc A.; (Belle Collaboration)
2016First observation of the decay B0 ?? (2S)?0Chobanova V.; Dalseno J.; Kiesling C.; Abdesselam A.; Adachi I.; Aihara H.; Asner D.M.; Aushev T.; Ayad R.; Babu V.; Badhrees I.; Bahinipati S.; Bakich A.M.; Barberio E.; Behera P.; Bhardwaj V.; Bhuyan B.; Biswal J.; Bobrov A.; Bozek A.; Bra?ko M.; Browder T.E.; ?ervenkov D.; Chekelian V.; Chen A.; Cheon B.G.; Chistov R.; Cho K.; Choi Y.; Cinabro D.; Dash N.; Dole�al Z.; Dr�sal Z.; Drutskoy A.; Eidelman S.; Farhat H.; Fast J.E.; Ferber T.; Fulsom B.G.; Gaur V.; Gabyshev N.; Garmash A.; Gillard R.; Goh Y.M.; Goldenzweig P.; Golob B.; Grzymkowska O.; Haba J.; Hara T.; Hayasaka K.; Hayashii H.; Hou W.-S.; Iijima T.; Inami K.; Ishikawa A.; Iwasaki Y.; Jaegle I.; Jeon H.B.; Joffe D.; Joo K.K.; Julius T.; Kato E.; Katrenko P.; Kawasaki T.; Kim D.Y.; Kim H.J.; Kim J.B.; Kim K.T.; Kim M.J.; Kim S.H.; Kim Y.J.; Kinoshita K.; Kody� P.; Korpar S.; Kri�an P.; Krokovny P.; Kuhr T.; Kumar R.; Kumita T.; Kuzmin A.; Kwon Y.-J.; Lee I.S.; Li H.; Li L.; Li Y.; Li Gioi L.; Libby J.; Liventsev D.; Masuda M.; Matvienko D.; Miyabayashi K.; Miyata H.; Mizuk R.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Moll A.; Moon H.K.; Mori T.; Mussa R.; Nakano E.; Nakao M.; Nanut T.; Natkaniec Z.; Nayak M.; Nedelkovska E.; Nisar N.K.; Nishida S.; Ogawa S.; Pakhlov P.; Pakhlova G.; Pal B.; Park C.W.; Park H.; Paul S.; Pedlar T.K.; Pestotnik R.; Petri? M.; Piilonen L.E.; Pulvermacher C.; Rauch J.; Ribe�l E.; Ritter M.; Ryu S.; Sahoo H.; Sakai Y.; Sandilya S.; Sanuki T.; Savinov V.; Schl�ter T.; Schneider O.; Schnell G.; Schwanda C.; Schwartz A.J.; Seino Y.; Senyo K.; Seon O.; Sevior M.E.; Shebalin V.; Shibata T.-A.; Shiu J.-G.; Shwartz B.; Simon F.; Singh J.B.; Sohn Y.-S.; Sokolov A.; Solovieva E.; Stari? M.; Stypula J.; Sumihama M.; Sumisawa K.; Sumiyoshi T.; Tamponi U.; Teramoto Y.; Trabelsi K.; Uchida M.; Uehara S.; Uglov T.; Unno Y.; Uno S.; Urquijo P.; Usov Y.; Van Hulse C.; Vanhoefer P.; Varner G.; Vinokurova A.; Vorobyev V.; Wagner M.N.; Wang C.H.; Wang M.-Z.; Wang P.; Wang X.L.; Watanabe M.; Watanabe Y.; Williams K.M.; Won E.; Yamaoka J.; Yashchenko S.; Ye H.; Yelton J.; Yuan C.Z.; Yusa Y.; Zhang Z.P.; Zhilich V.; Zhulanov V.; Zupanc A.; Belle Collaboration
2013Growth morphology and optical properties of ZnO nanostructures on different substratesPanda N.R.; Sahu D.; Mohanty S.; Acharya B.S.
2015Hybrid Methods for Fast Detection and Characterization of Power Quality DisturbancesUpadhyaya S.; Mohanty S.; Bhende C.N.
2016Inclusive and exclusive measurements of B decays to ?c1 and ?c2 at BelleBhardwaj V.; Miyabayashi K.; Panzenb�ck E.; Trabelsi K.; Frey A.; Abdesselam A.; Adachi I.; Aihara H.; Al Said S.; Arinstein K.; Asner D.M.; Atmacan H.; Aulchenko V.; Aushev T.; Ayad R.; Babu V.; Badhrees I.; Bahinipati S.; Bakich A.M.; Bala A.; Bansal V.; Barberio E.; Bhuyan B.; Biswal J.; Bobrov A.; Bondar A.; Bozek A.; Bra?ko M.; Browder T.E.; ?ervenkov D.; Chekelian V.; Chen A.; Cheon B.G.; Chilikin K.; Chistov R.; Cho K.; Chobanova V.; Choi S.-K.; Choi Y.; Cinabro D.; Dalseno J.; Danilov M.; Dole�al Z.; Dutta D.; Eidelman S.; Farhat H.; Fast J.E.; Ferber T.; Frost O.; Fulsom B.G.; Gaur V.; Gabyshev N.; Ganguly S.; Garmash A.; Gillard R.; Glattauer R.; Goh Y.M.; Goldenzweig P.; Golob B.; Greenwald D.; Haba J.; Hamer P.; Hayasaka K.; Hayashii H.; He X.H.; Hou W.-S.; Iijima T.; Inami K.; Ishikawa A.; Itoh R.; Iwasaki Y.; Jaegle I.; Joffe D.; Joo K.K.; Julius T.; Kato E.; Katrenko P.; Kawasaki T.; Kiesling C.; Kim D.Y.; Kim J.B.; Kim K.T.; Kim M.J.; Kim S.H.; Kim Y.J.; Kinoshita K.; Ko B.R.; Kobayashi N.; Kody� P.; Korpar S.; Kri�an P.; Krokovny P.; Kuhr T.; Kumar R.; Kumita T.; Kuzmin A.; Kwon Y.-J.; Lee I.S.; Li C.; Li Y.; Li Gioi L.; Libby J.; Liventsev D.; Loos A.; Lukin P.; Masuda M.; Matvienko D.; Miyata H.; Mizuk R.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Moll A.; Moon H.K.; Mussa R.; Nakano E.; Nakao M.; Nanut T.; Natkaniec Z.; Nayak M.; Nisar N.K.; Nishida S.; Ogawa S.; Okuno S.; Pakhlova G.; Pal B.; Park C.W.; Park H.; Pedlar T.K.; Pestotnik R.; Petri? M.; Piilonen L.E.; Pulvermacher C.; Purohit M.V.; Rauch J.; Ribe�l E.; Ritter M.; Rostomyan A.; Sahoo H.; Sakai Y.; Sandilya S.; Santelj L.; Sanuki T.; Sato Y.; Savinov V.; Schneider O.; Schnell G.; Schwanda C.; Seino Y.; Semmler D.; Senyo K.; Seon O.; Sevior M.E.; Shebalin V.; Shen C.P.; Shibata T.-A.; Shiu J.-G.; Shwartz B.; Simon F.; Singh J.B.; Sohn Y.-S.; Sokolov A.; Solovieva E.; Stari? M.; Stypula J.; Sumihama M.; Sumiyoshi T.; Tamponi U.; Tanida K.; Teramoto Y.; Uchida M.; Uehara S.; Uglov T.; Unno Y.; Uno S.; Urquijo P.; Usov Y.; Van Hulse C.; Vanhoefer P.; Varner G.; Vinokurova A.; Vorobyev V.; Wang C.H.; Wang M.-Z.; Wang P.; Wang X.L.; Watanabe M.; Watanabe Y.; Wehle S.; Won E.; Yamaoka J.; Yashchenko S.; Ye H.; Yook Y.; Yuan C.Z.; Yusa Y.; Zhang Z.P.; Zhilich V.; Zhulanov V.; Zupanc A.; (Belle Collaboration)
2015Inclusive cross sections for pairs of identified light charged hadrons and for single protons in e+e- at s =10.58 GeVSeidl R.; Abdesselam A.; Adachi I.; Aihara H.; Al Said S.; Asner D.M.; Aushev T.; Ayad R.; Babu V.; Badhrees I.; Bakich A.M.; Barberio E.; Bhardwaj V.; Bhuyan B.; Biswal J.; Bozek A.; Bra?ko M.; Browder T.E.; ?ervenkov D.; Chekelian V.; Chen A.; Cheon B.G.; Chilikin K.; Cho K.; Chobanova V.; Choi Y.; Cinabro D.; Dalseno J.; Dash N.; Dingfelder J.; Dole�al Z.; Dr�sal Z.; Dutta D.; Eidelman S.; Farhat H.; Fast J.E.; Ferber T.; Fulsom B.G.; Gaur V.; Gabyshev N.; Garmash A.; Gillard R.; Giordano F.; Goh Y.M.; Goldenzweig P.; Golob B.; Haba J.; Hara T.; Hayasaka K.; Hayashii H.; He X.H.; Hou W.-S.; Hsu C.-L.; Iijima T.; Inami K.; Ishikawa A.; Itoh R.; Iwasaki Y.; Jacobs W.W.; Jaegle I.; Joffe D.; Joo K.K.; Kang K.H.; Kato E.; Katrenko P.; Kawasaki T.; Kim D.Y.; Kim H.J.; Kim J.B.; Kim J.H.; Kim K.T.; Kim M.J.; Kim S.H.; Kim Y.J.; Kody� P.; Korpar S.; Kri�an P.; Krokovny P.; Kuzmin A.; Kwon Y.-J.; Lange J.S.; Lee D.H.; Li L.; Li Gioi L.; Libby J.; Liu Y.; Liventsev D.; Lukin P.; Masuda M.; Matvienko D.; Miyabayashi K.; Miyake H.; Miyata H.; Mizuk R.; Mohanty S.; Moll A.; Moon H.K.; Mori T.; Mussa R.; Nakano E.; Nakao M.; Nanut T.; Natkaniec Z.; Nayak M.; Niiyama M.; Nisar N.K.; Nishida S.; Ogawa S.; Okuno S.; Oswald C.; Pakhlov P.; Pakhlova G.; Pal B.; Park C.W.; Park H.; Pedlar T.K.; Pestotnik R.; Petri? M.; Piilonen L.E.; Ribe�l E.; Ritter M.; Rostomyan A.; Ryu S.; Sahoo H.; Sakai K.; Sakai Y.; Sandilya S.; Santelj L.; Sanuki T.; Savinov V.; Schneider O.; Schnell G.; Schwanda C.; Seino Y.; Senyo K.; Seon O.; Sevior M.E.; Shebalin V.; Shibata T.-A.; Shiu J.-G.; Simon F.; Sohn Y.-S.; Sokolov A.; Solovieva E.; Stari? M.; Sumihama M.; Sumisawa K.; Sumiyoshi T.; Tamponi U.; Teramoto Y.; Trusov V.; Uchida M.; Uglov T.; Unno Y.; Uno S.; Usov Y.; Van Hulse C.; Vanhoefer P.; Varner G.; Vorobyev V.; Vossen A.; Wagner M.N.; Wang C.H.; Wang M.-Z.; Wang P.; Watanabe M.; Watanabe Y.; Williams K.M.; Won E.; Yamaoka J.; Yashchenko S.; Yelton J.; Yusa Y.; Zhang Z.P.; Zhilich V.; Zhulanov V.; Belle Collaboration