IDR Logo

Browsing by Author Krohn J.F.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
or enter first few letters:  
Showing results 1 to 1 of 1
Issue DateTitleAuthor(s)
2017Measurement of the branching fraction and CP asymmetry in B0 ? ?0?0 decays, and an improved constraint on ?2Julius T.; Sevior M.E.; Mohanty G.B.; Adachi I.; Aihara H.; Al Said S.; Asner D.M.; Aulchenko V.; Aushev T.; Ayad R.; Babu V.; Badhrees I.; Bakich A.M.; Bansal V.; Barberio E.; Barrett M.; Berger M.; Bhardwaj V.; Bhuyan B.; Biswal J.; Bloomfield T.; Bobrov A.; Bondar A.; Bonvicini G.; Bozek A.; Bra?ko M.; Browder T.E.; ?ervenkov D.; Chang M.-C.; Chao Y.; Chekelian V.; Chen A.; Cheon B.G.; Chilikin K.; Cho K.; Choi Y.; Cinabro D.; Dash N.; Di Carlo S.; Dole�al Z.; Dossett D.; Dr�sal Z.; Dutta D.; Eidelman S.; Farhat H.; Fast J.E.; Ferber T.; Fulsom B.G.; Gaur V.; Gabyshev N.; Garmash A.; Gillard R.; Goldenzweig P.; Haba J.; Hara T.; Hayasaka K.; Hayashii H.; Hou W.-S.; Hsu C.-L.; Iijima T.; Inami K.; Ishikawa A.; Itoh R.; Iwasaki Y.; Jacobs W.W.; Jaegle I.; Jin Y.; Joffe D.; Joo K.K.; Kahn J.; Karyan G.; Katrenko P.; Kawasaki T.; Kiesling C.; Kim D.Y.; Kim H.J.; Kim J.B.; Kim K.T.; Kim M.J.; Kim S.H.; Kim Y.J.; Kinoshita K.; Kody� P.; Korpar S.; Kotchetkov D.; Kri�an P.; Krokovny P.; Krohn J.F.; Kuhr T.; Kulasiri R.; Kuzmin A.; Kwon Y.-J.; Lange J.S.; Lee I.S.; Li C.H.; Li L.; Li Y.; Li Gioi L.; Libby J.; Liventsev D.; Luo T.; MacNaughton J.; Masuda M.; Matsuda T.; Merola M.; Miyabayashi K.; Miyata H.; Mizuk R.; Moon H.K.; Mori T.; Mussa R.; Nakano E.; Nakao M.; Nanut T.; Nath K.J.; Natkaniec Z.; Nayak M.; Nisar N.K.; Nishida S.; Ogawa S.; Ono H.; Pakhlov P.; Pakhlova G.; Pal B.; Pardi S.; Park C.-S.; Park H.; Pes�ntez L.; Pestotnik R.; Piilonen L.E.; Pulvermacher C.; Ritter M.; Sahoo H.; Sakai Y.; Salehi M.; Sandilya S.; Santelj L.; Sanuki T.; Sato Y.; Savinov V.; Schneider O.; Schnell G.; Schwanda C.; Schwartz A.J.; Seino Y.; Senyo K.; Shebalin V.; Shibata T.-A.; Shiu J.-G.; Shwartz B.; Sokolov A.; Solovieva E.; Stari? M.; Sumiyoshi T.; Tamponi U.; Tanida K.; Tenchini F.; Trabelsi K.; Uchida M.; Uehara S.; Uglov T.; Unno Y.; Uno S.; Urquijo P.; Usov Y.; Van Hulse C.; Varner G.; Varvell K.E.; Vossen A.; Waheed E.; Wang C.H.; Wang M.-Z.; Wang P.; Watanabe M.; Watanabe Y.; Widmann E.; Williams K.M.; Won E.; Yamashita Y.; Ye H.; Yuan C.Z.; Yusa Y.; Zhang Z.P.; Zhilich V.; Zhulanov V.; Zupanc A.