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2016Belle II silicon vertex detectorAdamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Enami K.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.W.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sandilya S.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Volpi M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2017Belle II silicon vertex detectorDutta D.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli Ti.; Baroncelli To.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Bulla L.; Caria G.; Casarosa G.; Ceccanti M.; Cervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; De Pietro G.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kambara N.; Kang K.H.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kumar R.; Kun W.; Kvasnicka P.; La Licata C.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Libby J.; Lueck T.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Resmi P.K.; Rozanska M.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watanabe M.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; Wrkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.; Zani L.
2018Belle II silicon vertex detector (SVD)Bahinipati S.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Bulla L.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; De Pietro G.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Gobbo B.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kambara N.; Kang K.H.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Komarov I.; Kumar R.; Kun W.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Libby J.; Lee S.C.; Lueck T.; Maki M.; Mammini P.; Martini A.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Resmi P.K.; Rozanska M.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watanabe M.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.; Zani L.; (Belle-II SVD Collaboration)
2017The Belle II silicon vertex detector assembly and mechanicsAdamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Bulla L.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.W.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Lueck T.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.; Belle-II SVD Collaboration
2019The Belle II silicon vertex detector: Assembly and initial resultsThalmeier R.; Casarosa G.; Schwanda C.; Aihara H.; Aziz T.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bertacchi V.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Caria G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Czank T.; Dash N.; De Nuccio M.; Dole�al Z.; Forti F.; Friedl M.; Gobbo B.; Grimaldo J.A.M.; Hara K.; Higuchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kaleta M.; Kandra J.; Kambara N.; Kang K.H.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Komarov I.; Kumar M.; Kumar R.; Kun W.; Kvasni?ka P.; La Licata C.; Lalwani K.; Lanceri L.; Lee J.Y.; Lee S.C.; Libby J.; Lueck T.; Mammini P.; Martini A.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Prasanth K.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Resmi P.K.; Rozanska M.; Sahoo D.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanigawa H.; Taylor G.N.; Tsuboyama T.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watanabe M.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; Yin H.; Zani L.; (Belle-II SVD Collaboration)
2017The Belle II SVD data readout systemThalmeier R.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Bulla L.; Casarosa G.; Ceccanti M.; Cervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole?al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody? P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Lueck T.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaya I.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2016Belle II SVD ladder assembly procedure and electrical qualificationAdamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaya I.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sandilya S.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Volpi M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2019The Belle II vertex detector integrationKody� P.; Abudinen F.; Ackermann K.; Ahlburg P.; Aihara H.; Albalawi M.; Alonso O.; Andricek L.; Ayad R.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Bai Y.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bertacchi V.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Blanco R.; Bosi F.; Boronat M.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Camien C.; Caldwell A.; Caria G.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chekelian V.; Czank T.; Dash N.; De Nuccio M.; Deschamps B.; Dieguez A.; Dingfelder J.; Dole�al Z.; Esperante D.; Fischer P.; Forti F.; Fras M.; Frey A.; Friedl M.; Fuster J.; Gabriel M.; Gadow K.; Gebauer U.; Germic L.; Gessler T.; Getzkow D.; Gioi L.; Gobbo B.; Gomis P.; Grimaldo J.A.M.; Hara K.; Heck M.; Hemperek T.; Hensel M.; Higuchi T.; Hoek M.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kaleta M.; Kandra J.; Kambara N.; Kang K.H.; Kapusta P.; Kiesling C.; Kisielewski B.; Kittlinger D.; Klose D.; Koffmane C.; Kohriki T.; Koike S.; Komarov I.; Konorov I.; Krivokuca S.; Kr�ger H.; Kuhr T.; K�hn W.; Kumar M.; Kumar R.; Kun W.; Kvasni?ka P.; La Licata C.; Lacasta C.; Lalwani K.; Lanceri L.; Lange J.S.; Lautenbach K.; Lee J.Y.; Lee S.C.; Leis U.; Leitl P.; Levit D.; Libby J.; Liemann G.; Liu Z.; Lueck T.; L�tticke F.; Macharski L.; Mammini P.; Mari�as C.; Martini A.; Mayekar S.N.; Mccarney S.; Mohanty G.B.; Morii T.; Moser H.G.; Moya D.; Mueller F.J.; M�ller F.; M�nchow D.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Niebuhr C.; Ninkovic J.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Packheiser U.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Paschen B.; Paul S.; Peric I.; Poblotzki F.; Prasanth K.; Profeti A.; Rabusov A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Reiter S.P.; P.K. R.; Richter R.; Ritter M.; Ritzert M.; Rizzo G.; Rozanska M.; Rummel S.; Sahoo D.; Sanchez J.G.; Sasaki J.; Sato N.; Scavino B.; Schaller G.; Schnecke M.; Schopper F.; Schreeck H.; Schultschik S.; Schwanda C.; Schwenker B.; Sedlmeyer R.; Sfienti C.; Simon F.; Skambraks S.; Soloviev Y.; Spruck B.; Stever R.; Stolzenberg U.; Stypula J.; Suzuki J.; Tafelmayer E.; Takahashi M.; Tanaka S.; Tanigawa H.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Tsuboyama T.; Urquijo P.; Vila I.; Virto A.L.; Vitale L.; Vogt S.; Vos M.; Wang C.; Watanuki S.; Watanabe M.; Watson I.J.; Webb J.; Wermes N.; Wessel C.; Wiechczynski J.; Wieduwilt P.; Williams S.; Windel H.; Ye H.; Yin H.; Zani L.; Zhao J.; (Belle II DEPFET, PXD, and SVD Collaborations)
2016Belle-II VXD radiation monitoring and beam abort with sCVD diamond sensorsAdamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sandilya S.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Volpi M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2016A bonding study toward the quality assurance of Belle-II silicon vertex detector modulesKang K.H.; Jeon H.B.; Park H.; Uozumi S.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Joo C.W.; Kandra J.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Pilo F.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaia I.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sandilya S.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Urquijo P.; Vitale L.; Volpi M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2019Commissioning of the Belle II Silicon Vertex DetectorCasarosa G.; Aihara H.; Aziz T.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bertacchi V.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Caria G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Corona L.; Czank T.; Dash N.; De Nuccio M.; Dole�al Z.; Forti F.; Friedl M.; Gobbo B.; Grimaldo J.A.M.; Halder S.; Hara K.; Higuchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kaleta M.; Kandra J.; Kang K.H.; Kody� P.; Kohriki T.; Komarov I.; Kumar M.; Kumar R.; Kvasni?ka P.; La Licata C.; Lalwani K.; Lanceri L.; Lee J.Y.; Lee S.C.; Li Y.; Libby J.; Lueck T.; Mammini P.; Martini A.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Prasanth K.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaya I.; Resmi P.K.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sahoo D.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanigawa H.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Tsuboyama T.; Urquijo P.; Vitale L.; Wan K.; Watanabe M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; Yin H.; Zani L.; Belle II SVD Collaboration
2018Construction and quality assurance of the Belle II silicon vertex detectorResmi P.K.; Aihara H.; Aziz T.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli Ti.; Baroncelli To.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bertacchi V.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Caria G.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Czank T.; Dash N.; de Nuccio M.; Dole�al Z.; Forti F.; Friedl M.; Gobbo B.; Grimaldo J.A.M.; Hara K.; Higuchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kaleta M.; Kandra J.; Kang K.H.; Kody� P.; Kohriki T.; Komarov I.; Kumar M.; Kumar R.; Kvasni?ka P.; la Licata C.; Lalwani K.; Lanceri L.; Lee J.Y.; Lee S.C.; Li Y.; Libby J.; Lueck T.; Mammini P.; Martini A.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Prasanth K.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaya I.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sahoo D.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanigawa H.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Tsuboyama T.; Urquijo P.; Vitale L.; Wan K.; Watanabe M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; Yin H.; Zani L.; Belle II SVD Collaboration
2016Construction and test of the first Belle II SVD ladder implementing the origami chip-on-sensor designIrmler C.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Fr�hwirth R.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaia I.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sandilya S.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Volpi M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2017Electronics and firmware of the belle II silicon vertex detector readout systemThalmeier R.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipat S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batgnani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Bulla L.; Caria G.; Casarosa G.; Ceccant M.; Cervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; De Pietro G.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Fort F.; Friedl M.; Gobbo B.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kambara N.; Kang K.H.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Komarov I.; Kumar R.; Kun W.; Kvasnicka P.; La Licata C.; Lanceri L.; Lee S.C.; Lettenbichler J.; Libby J.; Lueck T.; Maki M.; Mammini P.; Martni A.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profet A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Resmi P.K.; Rozanska M.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Taylor G.N.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watanabe M.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.; Zani L.; Belle-II SVD Collaboraton
2016EMC studies for the vertex detector of the Belle II experimentThalmeier R.; Iglesias M.; Arteche F.; Echeverria I.; Friedl M.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Ceccanti M.; Cervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kiesling C.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasnicka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Moser H.G.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaia I.; Rizzo G.; Rozanska M.; Rummel S.; Sandilya S.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Volpi M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2018Machine learning: Hit time finding with a neural networkThalmeier R.; Yin H.; Aihara H.; Aziz T.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli Ti.; Baroncelli To.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bertacchi V.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Caria G.; Casarosa G.; Ceccanti M.; Cervenkov D.; Czank T.; Dash N.; de Nuccio M.; Dole�al Z.; Forti F.; Friedl M.; Gobbo B.; Grimaldo J.A.M.; Hara K.; Higuchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kaleta M.; Kandra J.; Kambara N.; Kang K.H.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Komarov I.; Kumar M.; Kumar R.; Kun W.; Kvasnicka P.; la Licata C.; Lalwani K.; Lanceri L.; Lee J.Y.; Lee S.C.; Libby J.; Lueck T.; Mammini P.; Martini A.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Prasanth K.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Resmi P.K.; Rozanska M.; Sahoo D.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanigawa H.; Taylor G.N.; Tsuboyama T.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watanabe M.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; Zani L.; Belle-II SVD Collaboration
2016The monitoring system of the Belle II Vertex DetectorVitale L.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli Ti.; Baroncelli To.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Bulla L.; Caria G.; Casarosa G.; Cautero G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; De Pietro G.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Giuressi D.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kambara N.; Kang K.H.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kumar R.; Kun W.; Kvasni?ka P.; La Licata C.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Libby J.; Lueck T.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Resmi P.K.; Rozanska M.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Watanuki S.; Watanabe M.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.; Zani L.
2018Operational experience and commissioning of the Belle II vertex detectorSchwenker B.; Abudin�n F.; Ackermann K.; Ahlburg P.; Aihara H.; Albalawi M.; Alonso O.; Andricek L.; Ayad R.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Bai Y.; Barberio E.; Baroncelli Ti.; Baroncelli To.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bertacchi V.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Blanco R.; Bosi F.; Boronat M.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Camien C.; Caldwell A.; Caria G.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chekelian V.; Czank T.; Dash N.; de Nuccio M.; Deschamps B.; Dieguez A.; Dingfelder J.; Dole�al Z.; Esperante D.; Fischer P.; Forti F.; Fras M.; Frey A.; Friedl M.; Fuster J.; Gabriel M.; Gadow K.; Gebauer U.; Germic L.; Gessler T.; Getzkow D.; Gioi L.; Gobbo B.; Gomis P.; Grimaldo J.A.M.; Hara K.; Heck M.; Hemperek T.; Hensel M.; Higuchi T.; Hoek M.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jaegle I.; Jeon H.B.; Joo C.; Kaleta M.; Kandra J.; Kambara N.; Kang K.H.; Kapusta P.; Kiesling C.; Kisielewski B.; Kittlinger D.; Klose D.; Kody� P.; Koffmane C.; Kohriki T.; Koike S.; Komarov I.; Konorov I.; Krivokuca S.; Kr�ger H.; Kuhr T.; K�hn W.; Kumar M.; Kumar R.; Kvasni?ka P.; la Licata C.; Lacasta C.; Lalwani K.; Lanceri L.; Lange J.S.; Lautenbach K.; Lee J.Y.; Lee S.C.; Leis U.; Leitl P.; Levit D.; Li Y.; Libby J.; Liemann G.; Liu Z.; Lueck T.; L�tticke F.; Macharski L.; Mammini P.; Mari�as C.; Martini A.; Mayekar S.N.; McCarney S.; Mohanty G.B.; Morii T.; Moser H.G.; Moya D.; Mueller F.J.; M�ller F.; M�nchow D.; Nakamura K.R.; Nakayama H.; Natkaniec Z.; Niebuhr C.; Ninkovic J.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Packheiser U.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Paschen B.; Paul S.; Peric I.; Poblotzki F.; Prasanth K.; Profeti A.; Rabusov A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Reiter S.P.; Resmi P.K.; Richter R.; Ritter M.; Ritzert M.; Rizzo G.; Rozanska M.; Rummel S.; Sahoo D.; Sanchez J.G.; Santelj L.; Sasaki J.; Sato N.; Scavino B.; Schaller G.; Schnecke M.; Schopper F.; Schreeck H.; Schultschik S.; Schwanda C.; Sedlmeyer R.; Sfienti C.; Simon F.; Skambraks S.; Soloviev Y.; Spruck B.; Stever R.; Stolzenberg U.; Stypula J.; Suzuki J.; Tafelmayer E.; Takahashi M.; Tanaka S.; Tanigawa H.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Tsuboyama T.; Urquijo P.; Vila I.; Virto A.L.; Vitale L.; Vogt S.; Vos M.; Wan K.; Wang C.; Watanuki S.; Watanabe M.; Watson I.J.; Webb J.; Wermes N.; Wessel C.; Wiechczynski J.; Wieduwilt P.; Williams S.; Windel H.; Ye H.; Yin H.; Zani L.; Zhao J.; Belle II DEPFET, PXD, and SVD Collaborations
2019Performance of the Belle II SVDLalwani K.; Aihara H.; Aziz T.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bertacchi V.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Caria G.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Czank T.; Dash N.; De Nuccio M.; Dole�al Z.; Forti F.; Friedl M.; Gobbo B.; Grimaldo J.A.M.; Hara K.; Higuchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kaleta M.; Kandra J.; Kambara N.; Kang K.H.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Komarov I.; Kumar M.; Kumar R.; Kun W.; Kvasni?ka P.; La Licata C.; Lanceri L.; Lee J.Y.; Lee S.C.; Libby J.; Lueck T.; Mammini P.; Martini A.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Prasanth K.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Resmi P.K.; Rozanska M.; Sahoo D.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanigawa H.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Tsuboyama T.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watanabe M.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; Yin H.; Zani L.
2018Performance studies of Belle II silicon vertex detectorLalwani K.; Aihara H.; Aziz T.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli Ti.; Baroncelli To.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bertacchi V.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Caria G.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Czank T.; Dash N.; de Nuccio M.; Dole�al Z.; Forti F.; Friedl M.; Gobbo B.; Grimaldo J.A.M.; Hara K.; Higuchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kaleta M.; Kandra J.; Kang K.H.; Kody� P.; Kohriki T.; Komarov I.; Kumar M.; Kumar R.; Kvasni?ka P.; la Licata C.; Lanceri L.; Lee J.Y.; Lee S.C.; Li Y.; Libby J.; Lueck T.; Mammini P.; Martini A.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Prasanth K.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaya I.; Resmi P.K.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sahoo D.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanigawa H.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Tsuboyama T.; Urquijo P.; Vitale L.; Wan K.; Watanabe M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; Yin H.; Zani L.