IDR Logo

Browsing by Author Hara K.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
or enter first few letters:  
Showing results 1 to 20 of 36  next >
Issue DateTitleAuthor(s)
2016Belle II silicon vertex detectorAdamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Enami K.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.W.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sandilya S.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Volpi M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2017Belle II silicon vertex detectorDutta D.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli Ti.; Baroncelli To.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Bulla L.; Caria G.; Casarosa G.; Ceccanti M.; Cervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; De Pietro G.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kambara N.; Kang K.H.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kumar R.; Kun W.; Kvasnicka P.; La Licata C.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Libby J.; Lueck T.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Resmi P.K.; Rozanska M.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watanabe M.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; Wrkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.; Zani L.
2018Belle II silicon vertex detector (SVD)Bahinipati S.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Bulla L.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; De Pietro G.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Gobbo B.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kambara N.; Kang K.H.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Komarov I.; Kumar R.; Kun W.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Libby J.; Lee S.C.; Lueck T.; Maki M.; Mammini P.; Martini A.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Resmi P.K.; Rozanska M.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watanabe M.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.; Zani L.; (Belle-II SVD Collaboration)
2017The Belle II silicon vertex detector assembly and mechanicsAdamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Bulla L.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.W.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Lueck T.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.; Belle-II SVD Collaboration
2019The Belle II silicon vertex detector: Assembly and initial resultsThalmeier R.; Casarosa G.; Schwanda C.; Aihara H.; Aziz T.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bertacchi V.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Caria G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Czank T.; Dash N.; De Nuccio M.; Dole�al Z.; Forti F.; Friedl M.; Gobbo B.; Grimaldo J.A.M.; Hara K.; Higuchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kaleta M.; Kandra J.; Kambara N.; Kang K.H.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Komarov I.; Kumar M.; Kumar R.; Kun W.; Kvasni?ka P.; La Licata C.; Lalwani K.; Lanceri L.; Lee J.Y.; Lee S.C.; Libby J.; Lueck T.; Mammini P.; Martini A.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Prasanth K.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Resmi P.K.; Rozanska M.; Sahoo D.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanigawa H.; Taylor G.N.; Tsuboyama T.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watanabe M.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; Yin H.; Zani L.; (Belle-II SVD Collaboration)
2017The Belle II SVD data readout systemThalmeier R.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Bulla L.; Casarosa G.; Ceccanti M.; Cervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole?al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody? P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Lueck T.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaya I.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2016Belle II SVD ladder assembly procedure and electrical qualificationAdamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaya I.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sandilya S.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Volpi M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2019The Belle II vertex detector integrationKody� P.; Abudinen F.; Ackermann K.; Ahlburg P.; Aihara H.; Albalawi M.; Alonso O.; Andricek L.; Ayad R.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Bai Y.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bertacchi V.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Blanco R.; Bosi F.; Boronat M.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Camien C.; Caldwell A.; Caria G.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chekelian V.; Czank T.; Dash N.; De Nuccio M.; Deschamps B.; Dieguez A.; Dingfelder J.; Dole�al Z.; Esperante D.; Fischer P.; Forti F.; Fras M.; Frey A.; Friedl M.; Fuster J.; Gabriel M.; Gadow K.; Gebauer U.; Germic L.; Gessler T.; Getzkow D.; Gioi L.; Gobbo B.; Gomis P.; Grimaldo J.A.M.; Hara K.; Heck M.; Hemperek T.; Hensel M.; Higuchi T.; Hoek M.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kaleta M.; Kandra J.; Kambara N.; Kang K.H.; Kapusta P.; Kiesling C.; Kisielewski B.; Kittlinger D.; Klose D.; Koffmane C.; Kohriki T.; Koike S.; Komarov I.; Konorov I.; Krivokuca S.; Kr�ger H.; Kuhr T.; K�hn W.; Kumar M.; Kumar R.; Kun W.; Kvasni?ka P.; La Licata C.; Lacasta C.; Lalwani K.; Lanceri L.; Lange J.S.; Lautenbach K.; Lee J.Y.; Lee S.C.; Leis U.; Leitl P.; Levit D.; Libby J.; Liemann G.; Liu Z.; Lueck T.; L�tticke F.; Macharski L.; Mammini P.; Mari�as C.; Martini A.; Mayekar S.N.; Mccarney S.; Mohanty G.B.; Morii T.; Moser H.G.; Moya D.; Mueller F.J.; M�ller F.; M�nchow D.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Niebuhr C.; Ninkovic J.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Packheiser U.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Paschen B.; Paul S.; Peric I.; Poblotzki F.; Prasanth K.; Profeti A.; Rabusov A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Reiter S.P.; P.K. R.; Richter R.; Ritter M.; Ritzert M.; Rizzo G.; Rozanska M.; Rummel S.; Sahoo D.; Sanchez J.G.; Sasaki J.; Sato N.; Scavino B.; Schaller G.; Schnecke M.; Schopper F.; Schreeck H.; Schultschik S.; Schwanda C.; Schwenker B.; Sedlmeyer R.; Sfienti C.; Simon F.; Skambraks S.; Soloviev Y.; Spruck B.; Stever R.; Stolzenberg U.; Stypula J.; Suzuki J.; Tafelmayer E.; Takahashi M.; Tanaka S.; Tanigawa H.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Tsuboyama T.; Urquijo P.; Vila I.; Virto A.L.; Vitale L.; Vogt S.; Vos M.; Wang C.; Watanuki S.; Watanabe M.; Watson I.J.; Webb J.; Wermes N.; Wessel C.; Wiechczynski J.; Wieduwilt P.; Williams S.; Windel H.; Ye H.; Yin H.; Zani L.; Zhao J.; (Belle II DEPFET, PXD, and SVD Collaborations)
2016Belle-II VXD radiation monitoring and beam abort with sCVD diamond sensorsAdamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sandilya S.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Volpi M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2016A bonding study toward the quality assurance of Belle-II silicon vertex detector modulesKang K.H.; Jeon H.B.; Park H.; Uozumi S.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Joo C.W.; Kandra J.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Pilo F.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaia I.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sandilya S.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Urquijo P.; Vitale L.; Volpi M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2019Commissioning of the Belle II Silicon Vertex DetectorCasarosa G.; Aihara H.; Aziz T.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bertacchi V.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Caria G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Corona L.; Czank T.; Dash N.; De Nuccio M.; Dole�al Z.; Forti F.; Friedl M.; Gobbo B.; Grimaldo J.A.M.; Halder S.; Hara K.; Higuchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kaleta M.; Kandra J.; Kang K.H.; Kody� P.; Kohriki T.; Komarov I.; Kumar M.; Kumar R.; Kvasni?ka P.; La Licata C.; Lalwani K.; Lanceri L.; Lee J.Y.; Lee S.C.; Li Y.; Libby J.; Lueck T.; Mammini P.; Martini A.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Prasanth K.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaya I.; Resmi P.K.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sahoo D.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanigawa H.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Tsuboyama T.; Urquijo P.; Vitale L.; Wan K.; Watanabe M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; Yin H.; Zani L.; Belle II SVD Collaboration
2018Construction and quality assurance of the Belle II silicon vertex detectorResmi P.K.; Aihara H.; Aziz T.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli Ti.; Baroncelli To.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bertacchi V.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Caria G.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Czank T.; Dash N.; de Nuccio M.; Dole�al Z.; Forti F.; Friedl M.; Gobbo B.; Grimaldo J.A.M.; Hara K.; Higuchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kaleta M.; Kandra J.; Kang K.H.; Kody� P.; Kohriki T.; Komarov I.; Kumar M.; Kumar R.; Kvasni?ka P.; la Licata C.; Lalwani K.; Lanceri L.; Lee J.Y.; Lee S.C.; Li Y.; Libby J.; Lueck T.; Mammini P.; Martini A.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Prasanth K.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaya I.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sahoo D.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanigawa H.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Tsuboyama T.; Urquijo P.; Vitale L.; Wan K.; Watanabe M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; Yin H.; Zani L.; Belle II SVD Collaboration
2016Construction and test of the first Belle II SVD ladder implementing the origami chip-on-sensor designIrmler C.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Ceccanti M.; ?ervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Fr�hwirth R.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaia I.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sandilya S.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Volpi M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2017Electronics and firmware of the belle II silicon vertex detector readout systemThalmeier R.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipat S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batgnani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Bulla L.; Caria G.; Casarosa G.; Ceccant M.; Cervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; De Pietro G.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Fort F.; Friedl M.; Gobbo B.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kambara N.; Kang K.H.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Komarov I.; Kumar R.; Kun W.; Kvasnicka P.; La Licata C.; Lanceri L.; Lee S.C.; Lettenbichler J.; Libby J.; Lueck T.; Maki M.; Mammini P.; Martni A.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profet A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Resmi P.K.; Rozanska M.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Taylor G.N.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watanabe M.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.; Zani L.; Belle-II SVD Collaboraton
2016EMC studies for the vertex detector of the Belle II experimentThalmeier R.; Iglesias M.; Arteche F.; Echeverria I.; Friedl M.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Ceccanti M.; Cervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kiesling C.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasnicka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Moser H.G.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaia I.; Rizzo G.; Rozanska M.; Rummel S.; Sandilya S.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Volpi M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2018Machine learning: Hit time finding with a neural networkThalmeier R.; Yin H.; Aihara H.; Aziz T.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli Ti.; Baroncelli To.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bertacchi V.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Caria G.; Casarosa G.; Ceccanti M.; Cervenkov D.; Czank T.; Dash N.; de Nuccio M.; Dole�al Z.; Forti F.; Friedl M.; Gobbo B.; Grimaldo J.A.M.; Hara K.; Higuchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kaleta M.; Kandra J.; Kambara N.; Kang K.H.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Komarov I.; Kumar M.; Kumar R.; Kun W.; Kvasnicka P.; la Licata C.; Lalwani K.; Lanceri L.; Lee J.Y.; Lee S.C.; Libby J.; Lueck T.; Mammini P.; Martini A.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Prasanth K.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Resmi P.K.; Rozanska M.; Sahoo D.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanigawa H.; Taylor G.N.; Tsuboyama T.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watanabe M.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; Zani L.; Belle-II SVD Collaboration
2017Measurement of the ? Lepton Polarization and R (D?) in the Decay B ?d??- ? ?Hirose S.; Iijima T.; Adachi I.; Adamczyk K.; Aihara H.; Al Said S.; Asner D.M.; Atmacan H.; Aulchenko V.; Aushev T.; Ayad R.; Babu V.; Badhrees I.; Bakich A.M.; Bansal V.; Barberio E.; Behera P.; Berger M.; Bhuyan B.; Biswal J.; Bondar A.; Bonvicini G.; Bozek A.; Bra?ko M.; Browder T.E.; ?ervenkov D.; Chang P.; Chen A.; Cheon B.G.; Chilikin K.; Chistov R.; Cho K.; Choi Y.; Cinabro D.; Danilov M.; Dash N.; Di Carlo S.; Dingfelder J.; Dole�al Z.; Dr�sal Z.; Dutta D.; Eidelman S.; Epifanov D.; Farhat H.; Fast J.E.; Ferber T.; Fulsom B.G.; Gaur V.; Gabyshev N.; Garmash A.; Goldenzweig P.; Golob B.; Greenwald D.; Grygier J.; Haba J.; Hara K.; Hasenbusch J.; Hayasaka K.; Hayashii H.; Higuchi T.; Hou W.-S.; Hsu C.-L.; Inami K.; Inguglia G.; Ishikawa A.; Itoh R.; Iwasaki Y.; Jacobs W.W.; Jaegle I.; Jin Y.; Joffe D.; Joo K.K.; Julius T.; Kato Y.; Kawasaki T.; Kichimi H.; Kiesling C.; Kim D.Y.; Kim J.B.; Kim K.T.; Kim M.J.; Kim S.H.; Kinoshita K.; Kody� P.; Korpar S.; Kotchetkov D.; Kri�an P.; Krokovny P.; Kuhr T.; Kulasiri R.; Kumar R.; Kwon Y.-J.; Lange J.S.; Li C.H.; Li L.; Li Y.; Li Gioi L.; Libby J.; Liventsev D.; Lubej M.; Luo T.; Macnaughton J.; Masuda M.; Matsuda T.; Matvienko D.; Miyabayashi K.; Miyake H.; Miyata H.; Mizuk R.; Mohanty G.B.; Moon H.K.; Mori T.; Mussa R.; Nakao M.; Nanut T.; Nath K.J.; Natkaniec Z.; Nayak M.; Niiyama M.; Nisar N.K.; Nishida S.; Ogawa S.; Okuno S.; Ono H.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Pakhlov P.; Pakhlova G.; Pal B.; Park C.W.; Park H.; Paul S.; Pes�ntez L.; Pestotnik R.; Piilonen L.E.; Prasanth K.; Ritter M.; Rostomyan A.; Rozanska M.; Sakai Y.; Sandilya S.; Santelj L.; Sanuki T.; Sato Y.; Savinov V.; Schl�ter T.; Schneider O.; Schnell G.; Schwanda C.; Seino Y.; Senyo K.; Seon O.; Sevior M.E.; Shebalin V.; Shen C.P.; Shibata T.-A.; Shiu J.-G.; Simon F.; Sokolov A.; Solovieva E.; Stari? M.; Strube J.F.; Sumisawa K.; Sumiyoshi T.; Takizawa M.; Tamponi U.; Tenchini F.; Trabelsi K.; Uchida M.; Uglov T.; Unno Y.; Uno S.; Urquijo P.; Ushiroda Y.; Usov Y.; Van Hulse C.; Varner G.; Varvell K.E.; Vossen A.; Wang C.H.; Wang M.-Z.; Wang P.; Watanabe M.; Watanabe Y.; Widmann E.; Won E.; Yamashita Y.; Ye H.; Yelton J.; Yuan C.Z.; Zhang Z.P.; Zhilich V.; Zhulanov V.; Zupanc A.; (Belle Collaboration)
2018Measurement of the ? lepton polarization and R(D*) in the decay B�?D*???�? with one-prong hadronic ? decays at BelleHirose S.; Iijima T.; Adachi I.; Adamczyk K.; Aihara H.; Al Said S.; Asner D.M.; Atmacan H.; Aushev T.; Ayad R.; Aziz T.; Babu V.; Badhrees I.; Bakich A.M.; Bansal V.; Berger M.; Bhardwaj V.; Bhuyan B.; Biswal J.; Bondar A.; Bozek A.; Bra?ko M.; Browder T.E.; ?ervenkov D.; Chang M.-C.; Chang P.; Chekelian V.; Chen A.; Cheon B.G.; Chilikin K.; Cho K.; Choi S.-K.; Choi Y.; Choudhury S.; Cinabro D.; Czank T.; Dash N.; Di Carlo S.; Dole�al Z.; Dutta D.; Eidelman S.; Fast J.E.; Ferber T.; Fulsom B.G.; Garg R.; Gaur V.; Gabyshev N.; Garmash A.; Gelb M.; Giri A.; Goldenzweig P.; Golob B.; Guan Y.; Guido E.; Haba J.; Hara K.; Hayasaka K.; Hayashii H.; Hedges M.T.; Higuchi T.; Hou W.-S.; Hsu C.-L.; Inami K.; Inguglia G.; Ishikawa A.; Itoh R.; Iwasaki M.; Jaegle I.; Jeon H.B.; Jin Y.; Julius T.; Kang K.H.; Karyan G.; Kawasaki T.; Kim D.Y.; Kim J.B.; Kim S.H.; Kim Y.J.; Kinoshita K.; Kody� P.; Korpar S.; Kotchetkov D.; Kri�an P.; Kroeger R.; Krokovny P.; Kuhr T.; Kulasiri R.; Kumar R.; Kuzmin A.; Kwon Y.-J.; Lange J.S.; Lee I.S.; Li L.K.; Li Y.; Li Gioi L.; Libby J.; Liventsev D.; Lubej M.; Matsuda T.; Miyabayashi K.; Miyata H.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Moon H.K.; Mori T.; Mussa R.; Nakamura K.R.; Nakao M.; Nanut T.; Nath K.J.; Natkaniec Z.; Niiyama M.; Nisar N.K.; Nishida S.; Ogawa S.; Okuno S.; Ono H.; Pal B.; Pardi S.; Park C.W.; Park H.; Paul S.; Pestotnik R.; Piilonen L.E.; Popov V.; Ritter M.; Rostomyan A.; Rozanska M.; Sakai Y.; Salehi M.; Sandilya S.; Sato Y.; Schneider O.; Schnell G.; Schwanda C.; Schwartz A.J.; Seino Y.; Senyo K.; Sevior M.E.; Shebalin V.; Shibata T.-A.; Shimizu N.; Shiu J.-G.; Simon F.; Sokolov A.; Solovieva E.; Stari? M.; Strube J.F.; Stypula J.; Sumihama M.; Sumisawa K.; Sumiyoshi T.; Takizawa M.; Tamponi U.; Tanida K.; Tenchini F.; Trabelsi K.; Uchida M.; Uglov T.; Uno S.; Urquijo P.; Van Hulse C.; Varner G.; Varvell K.E.; Vorobyev V.; Vossen A.; Wang C.H.; Wang M.-Z.; Wang P.; Wang X.L.; Wehle S.; Widmann E.; Won E.; Yamamoto H.; Yamashita Y.; Ye H.; Yuan C.Z.; Yusa Y.; Zakharov S.; Zhang Z.P.; Zhilich V.; Zhukova V.; Zhulanov V.; Zupanc A.; (The Belle Collaboration)
2014Measurement of the branching fraction of B+ ? ?+?? decays with the semileptonic tagging method and the full Belle data sampleAbdesselam A.; Adachi I.; Adamczyk K.; Aihara H.; Al Said S.; Arinstein K.; Arita Y.; Asner D.M.; Aso T.; Aulchenko V.; Aushev T.; Ayad R.; Aziz T.; Bahinipati S.; Bakich A.M.; Bala A.; Ban Y.; Bansal V.; Barberio E.; Barrett M.; Bartel W.; Bay A.; Bedny I.; Behera P.; Belhorn M.; Belous K.; Bhardwaj V.; Bhuyan B.; Bischofberger M.; Blyth S.; Bobrov A.; Bondar A.; Bonvicini G.; Bookwalter C.; Boulahouache C.; Bozek A.; Bra?ko M.; Brodzicka J.; Brovchenko O.; Browder T.E.; ?ervenkov D.; Chang M.-C.; Chang P.; Chao Y.; Chekelian V.; Chen A.; Chen K.-F.; Chen P.; Cheon B.G.; Chilikin K.; Chistov R.; Cho K.; Chobanova V.; Choi S.-K.; Choi Y.; Cinabro D.; Crnkovic J.; Dalseno J.; Danilov M.; Dingfelder J.; Dole�al Z.; Dr�sal Z.; Drutskoy A.; Dutta D.; Dutta K.; Eidelman S.; Epifanov D.; Esen S.; Farhat H.; Fast J.E.; Feindt M.; Ferber T.; Frey A.; Frost O.; Fujikawa M.; Gaur V.; Gabyshev N.; Ganguly S.; Garmash A.; Gillard R.; Giordano F.; Glattauer R.; Goh Y.M.; Golob B.; Grosse Perdekamp M.; Grzymkowska O.; Guo H.; Haba J.; Hamer P.; Han Y.L.; Hara K.; Hara T.; Hasegawa Y.; Hasenbusch J.; Hayasaka K.; Hayashii H.; He X.H.; Heck M.; Heffernan D.; Heider M.; Higuchi T.; Himori S.; Horiguchi T.; Horii Y.; Hoshi Y.; Hoshina K.; Hou W.-S.; Hsiung Y.B.; Huschle M.; Hyun H.J.; Igarashi Y.; Iijima T.; Imamura M.; Inami K.; Ishikawa A.; Itagaki K.; Itoh R.; Iwabuchi M.; Iwasaki M.; Iwasaki Y.; Iwashita T.; Iwata S.; Jaegle I.; Jones M.; Joo K.K.; Julius T.; Kah D.H.; Kakuno H.; Kang J.H.; Kapusta P.; Kataoka S.U.; Katayama N.; Kato E.; Kato Y.; Katrenko P.; Kawai H.; Kawasaki T.; Kichimi H.; Kiesling C.; Kim B.H.; Kim D.Y.; Kim H.J.; Kim H.O.; Kim J.B.; Kim J.H.; Kim K.T.; Kim M.J.; Kim S.K.; Kim Y.J.; Kinoshita K.; Kleinwort C.; Klucar J.; Ko B.R.; Kobayashi N.; Koblitz S.; Kody� P.; Koga Y.; Korpar S.; Kouzes R.T.; Kri�an P.; Krokovny P.; Kronenbitter B.; Kuhr T.; Kumar R.; Kumita T.; Kurihara E.; Kuroki Y.; Kuzmin A.; Kvasni?ka P.; Kwon Y.-J.; Lai Y.-T.; Lange J.S.; Lee S.-H.; Leitgab M.; Leitner R.; Li J.; Li X.; Li Y.; Li Gioi L.; Libby J.; Limosani A.; Liu C.; Liu Y.; Liu Z.Q.; Liventsev D.; Louvot R.; Lukin P.; MacNaughton J.; Matvienko D.; Matyja A.; McOnie S.; Mikami Y.; Miyabayashi K.; Miyachi Y.; Miyake H.; Miyata H.; Miyazaki Y.; Mizuk R.; Mohanty G.B.; Mohapatra D.; Moll A.; Mori T.; Moser H.-G.; M�ller T.; Muramatsu N.; Mussa R.; Nagamine T.; Nagasaka Y.; Nakahama Y.; Nakamura I.; Nakamura K.; Nakano E.; Nakano H.; Nakano T.; Nakao M.; Nakayama H.; Nakazawa H.; Nanut T.; Natkaniec Z.; Nayak M.; Nedelkovska E.; Negishi K.; Neichi K.; Ng C.; Niebuhr C.; Niiyama M.; Nisar N.K.; Nishida S.; Nishimura K.; Nitoh O.; Nozaki T.; Ogawa A.; Ogawa S.; Ohshima T.; Okuno S.; Olsen S.L.; Ono Y.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Oswald C.; Ozaki H.; Pakhlov P.; Pakhlova G.; Palka H.; Panzenb�ck E.; Park C.-S.; Park C.W.; Park H.; Park H.K.; Park K.S.; Peak L.S.; Pedlar T.K.; Peng T.; Pesantez L.; Pestotnik R.; Peters M.; Petri? M.; Piilonen L.E.; Poluektov A.; Prim M.; Prothmann K.; Reisert B.; Ribe�l E.; Ritter M.; R�hrken M.; Rorie J.; Rostomyan A.; Rozanska M.; Ryu S.; Sahoo H.; Saito T.; Sakai K.; Sakai Y.; Sandilya S.; Santel D.; Santelj L.; Sanuki T.; Sasao N.; Sato Y.; Savinov V.; Schneider O.; Schnell G.; Sch�nmeier P.; Schram M.; Schwanda C.; Schwartz A.J.; Schwenker B.; Seidl R.; Sekiya A.; Semmler D.; Senyo K.; Seon O.; Sevior M.E.; Shang L.; Shapkin M.; Shebalin V.; Shen C.P.; Shibata T.-A.; Shibuya H.; Shinomiya S.; Shiu J.-G.; Shwartz B.; Sibidanov A.; Simon F.; Singh J.B.; Sinha R.; Smerkol P.; Sohn Y.-S.; Sokolov A.; Soloviev Y.; Solovieva E.; Stani? S.; Stari? M.; Steder M.; Stypula J.; Sugihara S.; Sugiyama A.; Sumihama M.; Sumisawa K.; Sumiyoshi T.; Suzuki K.; Suzuki S.; Suzuki S.Y.; Suzuki Z.; Takeichi H.; Tamponi U.; Tanaka M.; Tanaka S.; Tanida K.; Taniguchi N.; Tatishvili G.; Taylor G.N.; Teramoto Y.; Thorne F.; Tikhomirov I.; Trabelsi K.; Tse Y.F.; Tsuboyama T.; Uchida M.; Uchida T.; Uchida Y.; Uehara S.; Ueno K.; Uglov T.; Unno Y.; Uno S.; Urquijo P.; Ushiroda Y.; Usov Y.; Vahsen S.E.; Van Hulse C.; Vanhoefer P.; Varner G.; Varvell K.E.; Vervink K.; Vinokurova A.; Vorobyev V.; Vossen A.; Wagner M.N.; Wang C.H.; Wang J.; Wang M.-Z.; Wang P.; Wang X.L.; Watanabe M.; Watanabe Y.; Wedd R.; Wehle S.; White E.; Wiechczynski J.; Williams K.M.; Won E.; Yabsley B.D.; Yamada S.; Yamamoto H.; Yamaoka J.; Yamashita Y.; Yamauchi M.; Yashchenko S.; Yook Y.; Yuan C.Z.; Yusa Y.; Zander D.; Zhang C.C.; Zhang L.M.; Zhang Z.P.; Zhao L.; Zhilich V.; Zhou P.; Zhulanov V.; Zivko T.; Zupanc A.; Zwahlen N.; Zyukova O.
2016Measurement of the branching ratio of B0 ?d?+?- ? ? relative to B 0 ?d?+? ??? decays with a semileptonic tagging methodSato Y.; Iijima T.; Adamczyk K.; Aihara H.; Asner D.M.; Atmacan H.; Aushev T.; Ayad R.; Aziz T.; Babu V.; Badhrees I.; Bakich A.M.; Bansal V.; Behera P.; Bhardwaj V.; Bhuyan B.; Biswal J.; Bonvicini G.; Bozek A.; Bra?ko M.; ?ervenkov D.; Chang P.; Chekelian V.; Chen A.; Cheon B.G.; Chilikin K.; Chistov R.; Cho K.; Chobanova V.; Choi Y.; Cinabro D.; Danilov M.; Dash N.; Di Carlo S.; Dole�al Z.; Dutta D.; Eidelman S.; Epifanov D.; Farhat H.; Fast J.E.; Ferber T.; Fulsom B.G.; Gaur V.; Gabyshev N.; Garmash A.; Goldenzweig P.; Golob B.; Greenwald D.; Hara K.; Hara T.; Hasenbusch J.; Hayasaka K.; Hayashii H.; Hirose S.; Horiguchi T.; Hou W.-S.; Inami K.; Ishikawa A.; Itoh R.; Iwasaki Y.; Jaegle I.; Jeon H.B.; Joffe D.; Julius T.; Kang K.H.; Kato Y.; Katrenko P.; Kawasaki T.; Kim D.Y.; Kim J.B.; Kim K.T.; Kim M.J.; Kim S.H.; Kim Y.J.; Kinoshita K.; Kody� P.; Korpar S.; Kotchetkov D.; Krokovny P.; Kuhr T.; Kumar R.; Kwon Y.-J.; Lange J.S.; Li C.H.; Li L.; Li Y.; Li Gioi L.; Libby J.; Liventsev D.; Luo T.; Masuda M.; Matsuda T.; Matvienko D.; Miyabayashi K.; Miyata H.; Mizuk R.; Mohanty G.B.; Moll A.; Moon H.K.; Nakamura K.R.; Nakano E.; Nakao M.; Nanut T.; Nath K.J.; Natkaniec Z.; Nayak M.; Negishi K.; Nisar N.K.; Nishida S.; Ogawa S.; Okuno S.; Olsen S.L.; Onuki Y.; Pakhlov P.; Pakhlova G.; Pal B.; Park C.-S.; Paul S.; Pedlar T.K.; Pes�ntez L.; Pestotnik R.; Petri? M.; Piilonen L.E.; Purohit M.V.; Rauch J.; Rostomyan A.; Rozanska M.; Sakai Y.; Sandilya S.; Santelj L.; Savinov V.; Schl�ter T.; Schneider O.; Schnell G.; Schwanda C.; Schwartz A.J.; Seino Y.; Senyo K.; Seon O.; Sevior M.E.; Shebalin V.; Shen C.P.; Shibata T.-A.; Shiu J.-G.; Shwartz B.; Simon F.; Solovieva E.; Stani? S.; Stari? M.; Strube J.F.; Sumiyoshi T.; Takizawa M.; Tamponi U.; Tenchini F.; Trabelsi K.; Uchida M.; Uno S.; Urquijo P.; Ushiroda Y.; Usov Y.; Van Hulse C.; Varner G.; Vinokurova A.; Vorobyev V.; Wang C.H.; Wang M.-Z.; Wang P.; Watanabe Y.; Williams K.M.; Won E.; Yamamoto H.; Yamaoka J.; Yamashita Y.; Yelton J.; Yook Y.; Yuan C.Z.; Yusa Y.; Zhang Z.P.; Zhilich V.; Zhukova V.; Zhulanov V.; Zupanc A.; Belle Collaboration