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Issue Date	Title	Author(s)
2017	Belle II silicon vertex detector	Dutta D.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli Ti.; Baroncelli To.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Bulla L.; Caria G.; Casarosa G.; Ceccanti M.; Cervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; De Pietro G.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kambara N.; Kang K.H.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kumar R.; Kun W.; Kvasnicka P.; La Licata C.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Libby J.; Lueck T.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Resmi P.K.; Rozanska M.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watanabe M.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; Wrkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.; Zani L.
2017	The Belle II SVD data readout system	Thalmeier R.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Bulla L.; Casarosa G.; Ceccanti M.; Cervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole?al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kody? P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasni?ka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Lueck T.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaya I.; Rizzo G.; Rozanska M.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2017	Electronics and firmware of the belle II silicon vertex detector readout system	Thalmeier R.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipat S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batgnani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Bulla L.; Caria G.; Casarosa G.; Ceccant M.; Cervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; De Pietro G.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Fort F.; Friedl M.; Gobbo B.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kambara N.; Kang K.H.; Kawasaki T.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Komarov I.; Kumar R.; Kun W.; Kvasnicka P.; La Licata C.; Lanceri L.; Lee S.C.; Lettenbichler J.; Libby J.; Lueck T.; Maki M.; Mammini P.; Martni A.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profet A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Resmi P.K.; Rozanska M.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Taylor G.N.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watanabe M.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.; Zani L.; Belle-II SVD Collaboraton
2016	EMC studies for the vertex detector of the Belle II experiment	Thalmeier R.; Iglesias M.; Arteche F.; Echeverria I.; Friedl M.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli T.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Ceccanti M.; Cervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kang K.H.; Kato E.; Kawasaki T.; Kiesling C.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kvasnicka P.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Moser H.G.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Negishi K.; Nisar N.K.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaia I.; Rizzo G.; Rozanska M.; Rummel S.; Sandilya S.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanida K.; Taylor G.N.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Volpi M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.
2018	Machine learning: Hit time finding with a neural network	Thalmeier R.; Yin H.; Aihara H.; Aziz T.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli Ti.; Baroncelli To.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bertacchi V.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Caria G.; Casarosa G.; Ceccanti M.; Cervenkov D.; Czank T.; Dash N.; de Nuccio M.; Dole�al Z.; Forti F.; Friedl M.; Gobbo B.; Grimaldo J.A.M.; Hara K.; Higuchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kaleta M.; Kandra J.; Kambara N.; Kang K.H.; Kody� P.; Kohriki T.; Koike S.; Komarov I.; Kumar M.; Kumar R.; Kun W.; Kvasnicka P.; la Licata C.; Lalwani K.; Lanceri L.; Lee J.Y.; Lee S.C.; Libby J.; Lueck T.; Mammini P.; Martini A.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Prasanth K.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Resmi P.K.; Rozanska M.; Sahoo D.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Tanigawa H.; Taylor G.N.; Tsuboyama T.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watanabe M.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; Zani L.; Belle-II SVD Collaboration
2019	Measurement of branching fraction and final-state asymmetry for the B 0 ? KS0 K p� Decay measurement of branching fraction and final-state ... Y.-T. LAI et al.	(Belle Collaboration), Lai Y.-T.; Adachi I.; Aihara H.; Al Said S.; Asner D.M.; Atmacan H.; Aulchenko V.; Aushev T.; Babu V.; Badhrees I.; Bakich A.M.; Bansal V.; Behera P.; Bele�o C.; Bhuyan B.; Bilka T.; Biswal J.; Bobrov A.; Bozek A.; Bracko M.; Cao L.; Cervenkov D.; Chang P.; Chekelian V.; Chen A.; Cheon B.G.; Chilikin K.; Cho K.; Choi S.-K.; Choi Y.; Choudhury S.; Cinabro D.; Cunliffe S.; Dash N.; Di Carlo S.; Dole�al Z.; Dong T.V.; Eidelman S.; Epifanov D.; Fast J.E.; Frey A.; Fulsom B.G.; Garg R.; Gaur V.; Gabyshev N.; Garmash A.; Gelb M.; Giri A.; Goldenzweig P.; Greenwald D.; Guan Y.; Haba J.; Hara T.; Hayasaka K.; Hayashii H.; Hou W.-S.; Hsu C.-L.; Huang K.; Iijima T.; Inami K.; Inguglia G.; Ishikawa A.; Itoh R.; Iwasaki M.; Iwasaki Y.; Jia S.; Jin Y.; Joffe D.; Kaliyar A.B.; Karyan G.; Kawasaki T.; Kichimi H.; Kiesling C.; Kim D.Y.; Kim H.J.; Kim J.B.; Kim S.H.; Kinoshita K.; Kody� P.; Korpar S.; Kotchetkov D.; Kri�an P.; Kroeger R.; Krokovny P.; Kuhr T.; Kulasiri R.; Kumar R.; Kuzmin A.; Kwon Y.-J.; Lalwani K.; Lange J.S.; Lee I.S.; Lee J.K.; Lee J.Y.; Lee S.C.; Li C.H.; Li L.K.; Li Y.B.; Li Gioi L.; Libby J.; Liptak Z.; Liventsev D.; Lu P.-C.; Lubej M.; Luo T.; Macnaughton J.; Masuda M.; Matsuda T.; Matvienko D.; Merola M.; Miyabayashi K.; Mizuk R.; Mohanty G.B.; Mori T.; Mrvar M.; Mussa R.; Nakano E.; Nakao M.; Nath K.J.; Nayak M.; Nisar N.K.; Nishida S.; Ogawa S.; Pakhlova G.; Pal B.; Pardi S.; Park H.; Paul S.; Pedlar T.K.; Pestotnik R.; Piilonen L.E.; Popov V.; Prencipe E.; Rabusov A.; Ritter M.; Rostomyan A.; Russo G.; Sakai Y.; Salehi M.; Sandilya S.; Santelj L.; Sanuki T.; Savinov V.; Schneider O.; Schnell G.; Schwanda C.; Seino Y.; Senyo K.; Seon O.; Sevior M.E.; Shen C.P.; Shibata T.-A.; Shiu J.-G.; Solovieva E.; Staric M.; Sumihama M.; Sumiyoshi T.; Sutcliffe W.; Takizawa M.; Tanida K.; Tao Y.; Tenchini F.; Uchida M.; Uglov T.; Unno Y.; Uno S.; Urquijo P.; Usov Y.; Van Tonder R.; Varner G.; Varvell K.E.; Vorobyev V.; Wang B.; Wang C.H.; Wang M.-Z.; Wang P.; Wang X.L.; Widmann E.; Won E.; Yamamoto H.; Yang S.B.; Ye H.; Yuan C.Z.; Yusa Y.; Zhang Z.P.; Zhilich V.; Zhukova V.; Zhulanov V.
2016	Performance studies of the Belle II Silicon Vertex Detector with data taken at the DESY test beam in April 2016	L�ck T.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli Ti.; Baroncelli To.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Bulla L.; Caria G.; Casarosa G.; Ceccanti M.; Cervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; De Pietro G.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kambara N.; Kang K.H.; Kawasaki T.; Kody? P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kumar R.; Kun W.; Kvasnicka P.; La Licata C.; Lanceri L.; Lettenbichler J.; Libby J.; Maki M.; Mammini P.; Martini La Licata A.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rao K.K.; Rashevskaya I.; Rizzo G.; Resmi P.K.; Rozanska M.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Schwenker B.; Seino Y.; Shimizu N.; Stolzenberg U.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanabe M.; Watanuki S.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.; Zani L.
2016	The software framework of the Belle II silicon vertex detector and its development for the 2016 test-beam at desy	Caria G.; Adamczyk K.; Aihara H.; Angelini C.; Aziz T.; Babu V.; Bacher S.; Bahinipati S.; Barberio E.; Baroncelli Ti.; Baroncelli To.; Basith A.K.; Batignani G.; Bauer A.; Behera P.K.; Bergauer T.; Bettarini S.; Bhuyan B.; Bilka T.; Bosi F.; Bosisio L.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Bulla L.; Casarosa G.; Ceccanti M.; Cervenkov D.; Chendvankar S.R.; Dash N.; De Pietro G.; Divekar S.T.; Dole�al Z.; Dutta D.; Forti F.; Friedl M.; Hara K.; Higuchi T.; Horiguchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H.B.; Joo C.; Kandra J.; Kambara N.; Kang K.H.; Kawasaki T.; Kody? P.; Kohriki T.; Koike S.; Kolwalkar M.M.; Kumar R.; Kun W.; Kvasnicka P.; La Licata C.; Lanceri L.; Lettenbicher J.; Libby J.; Lueck T.; Maki M.; Mammini P.; Mayekar S.N.; Mohanty G.B.; Mohanty S.; Morii T.; Nakamura K.R.; Natkaniec Z.; Onuki Y.; Ostrowicz W.; Paladino A.; Paoloni E.; Park H.; Pilo F.; Profeti A.; Rashevskaya I.; Rao K.K.; Rizzo G.; Resmi P.K.; Rozanska M.; Sasaki J.; Sato N.; Schultschik S.; Schwanda C.; Seino Y.; Shimizu N.; Stypula J.; Suzuki J.; Tanaka S.; Taylor G.N.; Thalmeier R.; Thomas R.; Tsuboyama T.; Uozumi S.; Urquijo P.; Vitale L.; Watanuki S.; Watanabe M.; Watson I.J.; Webb J.; Wiechczynski J.; Williams S.; W�rkner B.; Yamamoto H.; Yin H.; Yoshinobu T.; Zani L.

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