IDR Logo

Browsing by Author Bracko M.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
or enter first few letters:  
Showing results 1 to 2 of 2
Issue DateTitleAuthor(s)
2016First model-independent Dalitz analysis of B0 ? DK?0, D ? KS ?+?-decayNegishi K.; Ishikawa A.; Yamamoto H.; Abdesselam A.; Adachi I.; Aihara H.; Said A.Al.; Asner D.M.; Aulchenko V.; Aushev T.; Ayad R.; Babu V.; Badhrees I.; Bahinipati S.; Bakich A.M.; Barberio E.; Biswal J.; Bonvicini G.; Bozek A.; Bracko M.; Browder T.E.; Chekelian V.; Chen A.; Cheon B.G.; Chilikin K.; Chistov R.; Cho K.; Chobanova V.; Choi S.-K.; Choi Y.; Cinabro D.; Dalseno J.; Danilov M.; Dolezal Z.; Drutskoy A.; Dutta D.; Eidelman S.; Farhat H.; Fast J.E.; Ferber T.; Fulsom B.G.; Gaur V.; Gabyshev N.; Garmash A.; Getzkow D.; Gillard R.; Glattauer R.; Goh Y.M.; Goldenzweig P.; Golob B.; Grzymkowska O.; Haba J.; Hara T.; Hayasaka K.; Hayashii H.; He X.H.; Horiguchi T.; Hou W.-S.; Iijima T.; Inami K.; Itoh R.; Iwasaki Y.; Jaegle I.; Joffe D.; Joo K.K.; Julius T.; Kang K.H.; Kawasaki T.; Kiesling C.; Kim D.Y.; Kim J.B.; Kim J.H.; Kim K.T.; Kim M.J.; Kim S.H.; Kim Y.J.; Kinoshita K.; Ko B.R.; Kodys P.; Korpar S.; Krizan P.; Krokovny P.; Kumita T.; Kuzmin A.; Kwon Y.-J.; Lange J.S.; Lee I.S.; Lewis P.; Li Y.; Li Gioi L.; Libby J.; Liventsev D.; Lukin P.; Masuda M.; Matvienko D.; Miyabayashi K.; Miyata H.; Mizuk R.; Mohanty G.B.; Moll A.; Moon H.K.; Mussa R.; Nakao M.; Nanut T.; Natkaniec Z.; Nayak M.; Nisar N.K.; Nishida S.; Ogawa S.; Okuno S.; Onuki Y.; Pakhlov P.; Pakhlova G.; Pal B.; Park C.W.; Park H.; Pedlar T.K.; Pesantez L.; Pestotnik R.; Petric M.; Piilonen L.E.; Pulvermacher C.; Ribezl E.; Ritter M.; Rostomyan A.; Sakai Y.; Sandilya S.; Santelj L.; Sanuki T.; Sato Y.; Savinov V.; Schneider O.; Schnell G.; Schwanda C.; Senyo K.; Sevior M.E.; Shebalin V.; Shen C.P.; Shibata T.-A.; Shiu J.-G.; Simon F.; Sohn Y.-S.; Solovieva E.; Stanic S.; Staric M.; Steder M.; Sumihama M.; Sumiyoshi T.; Tamponi U.; Teramoto Y.; Uchida M.; Unno Y.; Uno S.; Urquijo P.; Van Hulse C.; Vanhoefer P.; Varner G.; Vinokurova A.; Vossen A.; Wagner M.N.; Wang C.H.; Wang M.-Z.; Wang P.; Wang X.L.; Watanabe M.; Watanabe Y.; Wehle S.; Williams K.M.; Won E.; Yamaoka J.; Yamashita Y.; Yashchenko S.; Yelton J.; Yook Y.; Yuan C.Z.; Yusa Y.; Zhang Z.P.; Zhilich V.; Zhulanov V.; Zupanc A.
2019Measurement of branching fraction and final-state asymmetry for the B 0 ? KS0 K p� Decay measurement of branching fraction and final-state ... Y.-T. LAI et al.(Belle Collaboration), Lai Y.-T.; Adachi I.; Aihara H.; Al Said S.; Asner D.M.; Atmacan H.; Aulchenko V.; Aushev T.; Babu V.; Badhrees I.; Bakich A.M.; Bansal V.; Behera P.; Bele�o C.; Bhuyan B.; Bilka T.; Biswal J.; Bobrov A.; Bozek A.; Bracko M.; Cao L.; Cervenkov D.; Chang P.; Chekelian V.; Chen A.; Cheon B.G.; Chilikin K.; Cho K.; Choi S.-K.; Choi Y.; Choudhury S.; Cinabro D.; Cunliffe S.; Dash N.; Di Carlo S.; Dole�al Z.; Dong T.V.; Eidelman S.; Epifanov D.; Fast J.E.; Frey A.; Fulsom B.G.; Garg R.; Gaur V.; Gabyshev N.; Garmash A.; Gelb M.; Giri A.; Goldenzweig P.; Greenwald D.; Guan Y.; Haba J.; Hara T.; Hayasaka K.; Hayashii H.; Hou W.-S.; Hsu C.-L.; Huang K.; Iijima T.; Inami K.; Inguglia G.; Ishikawa A.; Itoh R.; Iwasaki M.; Iwasaki Y.; Jia S.; Jin Y.; Joffe D.; Kaliyar A.B.; Karyan G.; Kawasaki T.; Kichimi H.; Kiesling C.; Kim D.Y.; Kim H.J.; Kim J.B.; Kim S.H.; Kinoshita K.; Kody� P.; Korpar S.; Kotchetkov D.; Kri�an P.; Kroeger R.; Krokovny P.; Kuhr T.; Kulasiri R.; Kumar R.; Kuzmin A.; Kwon Y.-J.; Lalwani K.; Lange J.S.; Lee I.S.; Lee J.K.; Lee J.Y.; Lee S.C.; Li C.H.; Li L.K.; Li Y.B.; Li Gioi L.; Libby J.; Liptak Z.; Liventsev D.; Lu P.-C.; Lubej M.; Luo T.; Macnaughton J.; Masuda M.; Matsuda T.; Matvienko D.; Merola M.; Miyabayashi K.; Mizuk R.; Mohanty G.B.; Mori T.; Mrvar M.; Mussa R.; Nakano E.; Nakao M.; Nath K.J.; Nayak M.; Nisar N.K.; Nishida S.; Ogawa S.; Pakhlova G.; Pal B.; Pardi S.; Park H.; Paul S.; Pedlar T.K.; Pestotnik R.; Piilonen L.E.; Popov V.; Prencipe E.; Rabusov A.; Ritter M.; Rostomyan A.; Russo G.; Sakai Y.; Salehi M.; Sandilya S.; Santelj L.; Sanuki T.; Savinov V.; Schneider O.; Schnell G.; Schwanda C.; Seino Y.; Senyo K.; Seon O.; Sevior M.E.; Shen C.P.; Shibata T.-A.; Shiu J.-G.; Solovieva E.; Staric M.; Sumihama M.; Sumiyoshi T.; Sutcliffe W.; Takizawa M.; Tanida K.; Tao Y.; Tenchini F.; Uchida M.; Uglov T.; Unno Y.; Uno S.; Urquijo P.; Usov Y.; Van Tonder R.; Varner G.; Varvell K.E.; Vorobyev V.; Wang B.; Wang C.H.; Wang M.-Z.; Wang P.; Wang X.L.; Widmann E.; Won E.; Yamamoto H.; Yang S.B.; Ye H.; Yuan C.Z.; Yusa Y.; Zhang Z.P.; Zhilich V.; Zhukova V.; Zhulanov V.